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1
Toward 3D Integration of Highly See‐Through Photonic Circuits in Glass
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Toward 3D Integration of Highly See‐Through Photonic Circuits in Glass

Zhong, Lijing ; Wang, Yuying ; Tan, Dezhi ; Qiu, Jianrong

Laser & photonics reviews, 2023-06, Vol.17 (6), p.n/a [Periódico revisado por pares]

Weinheim: Wiley Subscription Services, Inc

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2
Demonstration of Error-Tolerant Integrated Optical Processors Based on Multi-Plane Light Conversion
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Demonstration of Error-Tolerant Integrated Optical Processors Based on Multi-Plane Light Conversion

Tanomura, Ryota ; Tang, Rui ; Tanemura, Takuo ; Nakano, Yoshiaki

IEEE photonics technology letters, 2023-12, Vol.35 (23), p.1275-1278

IEEE

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3
Multi-wavelength dual-polarization optical unitary processor using integrated multi-plane light converter
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Multi-wavelength dual-polarization optical unitary processor using integrated multi-plane light converter

Tanomura, Ryota ; Tanemura, Takuo ; Nakano, Yoshiaki

Japanese Journal of Applied Physics, 2023-04, Vol.62 (SC), p.SC1029 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: IOP Publishing

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4
All-Silicon Photodetectors for Photonic Integrated Circuit Calibration
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All-Silicon Photodetectors for Photonic Integrated Circuit Calibration

Dwivedi, Sarvagya ; Kjellman, Jon ; David, Tangla ; Prost, Mathias ; Syshchyk, Olga ; Van Sieleghem, Edward ; Lee, Jiwon ; Marinins, Aleks ; Soussan, Philippe ; Dahlem, Marcus ; Rottenberg, Xavier ; Jansen, Roelof

IEEE photonics technology letters, 2021-08, Vol.33 (16), p.836-839

New York: IEEE

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5
A Comprehensive Equivalent Circuit Model of Silicon Microring Modulators for Photonics-Electronics Codesign
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A Comprehensive Equivalent Circuit Model of Silicon Microring Modulators for Photonics-Electronics Codesign

Bao, Shenlei ; Ma, Yingjie ; Xue, Jintao ; Wu, Jinyi ; Qi, Nan ; Wang, Binhao

Journal of lightwave technology, 2024-07, Vol.42 (14), p.4924-4932 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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6
A Wavelength Tunable Multi-section PIC as an Upstream Transmitter for TWDM Networks
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A Wavelength Tunable Multi-section PIC as an Upstream Transmitter for TWDM Networks

Sharma, A. ; Kaszubowska-Anandarajah, A. ; Wallace, M. ; Jain, G. ; Braddell, J. ; Smyth, F. ; Anandarajah, P. M.

Journal of lightwave technology, 2023-07, Vol.41 (14), p.1-8 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Fabrication Tolerances’ Impact on an ODAC-Based PAM-4 Transmitter
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Fabrication Tolerances’ Impact on an ODAC-Based PAM-4 Transmitter

Abejide, Adebayo E. ; Santos, João ; Chattopadhyay, Tanay ; Rodrigues, Francisco ; Lima, Mario ; Teixeira, António

Photonics, 2024-07, Vol.11 (7), p.589 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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8
Editorial: Integrated Quantum Photonics
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Editorial: Integrated Quantum Photonics

Saito, Shinichi

Frontiers in physics, 2021-11, Vol.9 [Periódico revisado por pares]

Frontiers Media S.A

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9
60 nm Widely Tunable Three Section Slot Laser
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60 nm Widely Tunable Three Section Slot Laser

Mulcahy, Jack ; McCarthy, John ; Peters, Frank H. ; Dai, Xing

IEEE journal of quantum electronics, 2023-12, Vol.59 (6), p.1-6 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Current Status of Large-Scale InP Photonic Integrated Circuits
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Current Status of Large-Scale InP Photonic Integrated Circuits

Kish, F. A. ; Welch, D. ; Nagarajan, R. ; Pleumeekers, J. L. ; Lal, V. ; Ziari, M. ; Nilsson, A. ; Kato, M. ; Murthy, S. ; Evans, P. ; Corzine, S. W. ; Mitchell, M. ; Samra, P. ; Missey, M. ; DeMars, S. ; Schneider, R. P. ; Reffle, M. S. ; Butrie, T. ; Rahn, J. T. ; Van Leeuwen, M. ; Stewart, J. W. ; Lambert, D. J. ; Muthiah, R. C. ; Tsai, H. ; Bostak, J. S. ; Dentai, A. ; Wu, K. ; Sun, H. ; Pavinski, D. J. ; Zhang, J. ; Tang, J. ; McNicol, J. ; Kuntz, M. ; Dominic, V. ; Taylor, B. D. ; Salvatore, R. A. ; Fisher, M. ; Spannagel, A. ; Strzelecka, E. ; Studenkov, P. ; Raburn, M. ; Williams, W. ; Christini, D. ; Thomson, K. K. ; Agashe, S. S. ; Malendevich, R. ; Goldfarb, G. ; Melle, S. ; Joyner, C. ; Kaufman, M. ; Grubb, S. G.

IEEE journal of selected topics in quantum electronics, 2011-11, Vol.17 (6), p.1470-1489 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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