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Caracterização experimental e análise da formação de filme de siliceto de titanio por técnicas de difração de raios-x

Nilton Itiro Morimoto 1962- Jacobus Willibrordus Swart 1950-; Humberto Gracher Riella; Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica (3. 1988 São Paulo)

Anais São Paulo : Sbmicro/Epusp, 1988

São Paulo Sbmicro/Epusp 1988

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Estudo de supressão de fases secundárias de cerâmicas de PLZT dopado com óxido de tungstênio

Walcinyr Bragatto-Neto D Garcia; R Favaretto; J A Eiras; Yvonne Primerano Mascarenhas; Congresso Brasileiro de Cerâmica (46. 2002 São Paulo)

Anais São Paulo: Associação Brasileira de Cerâmica, 2002

São Paulo Associação Brasileira de Cerâmica 2002

Disponible en IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD008355 ) y otras localizaciones(Obténgalo)

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Efeito do teor de Y2O3 na sinterização de AIN

André Luiz Molisani Humberto Naoyuki Yoshimura; Hélio Goldenstein 1949-; Congresso Brasileiro de Cerâmica (49. 2005 São Pedro)

Anais. São Paulo : Associação Brasileira de Cerâmica, 2005

São Paulo Associação Brasileira de Cerâmica 2005

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Correlação entre energia armazenada na deformação e medidas magnéticas

Marcos Flávio de Campos Ivan Gilberto Sandoval Falleiros 1943-2023; Fernando José Gomes Landgraf 1954-; Congresso Anual da ABM - Internacional (59. 2004 São Paulo)

Anais. São Paulo, ABM, 2004

São Paulo ABM 2004

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Comparação entre o método do padrão interno e o método de rietveld para análise do teor de alumínio em uma drosse branca de alumínio

Adriana Gómez Gómez Nelson Batista de Lima; Jorge Alberto Soares Tenório 1961-; Congresso Anual da ABM (60. 2005 Belo Horizonte)

Anais. São Paulo : ABM, 2005

São Paulo ABM 2005

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Análise de gradientes de tensões residuais em filmes finos de nitreto de titânio utilizando métodos de difração de raios X com ângulo de incidência rasante

Adriana Gómez Gómez Abel André Cândido Recco; Daniel Escobar Rincon; Roberto Martins de Souza 1966-; Congresso Nacional de Engenharia Mecânica - CONEM (7. 2012 São Luís, Maranhão)

Anais

Rio de Janeiro ABCM 2012

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Caracterização de filmes finos empregando a técnica de difração de raio-x

Nilton Itiro Morimoto 1962- Jacobus Willibrordus Swart 1950-; Humberto Gracher Riella; Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletronica (2. 1987 São Paulo)

Anais São Paulo : Sbmicro/Epusp, 1987

São Paulo Sbmicro/Epusp 1987

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Cálculo de tensões residuais em filmes finos através de difração de raios-X com ângulo de incidência rasante

Carlos Eduardo Keutenedjian Mady Adriana Gómez Gómez; Roberto Martins de Souza 1966-; Deniol Katsuki Tanaka 1947-2023; Encontro de Iniciação Científica Laboratório de Fenômenos de Superfície, Departamento de Engenharia Mecânica (9. 2008 São Paulo)

Anais São Paulo : EPUSP, 2008

São Paulo EPUSP 2008

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9
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Estudo por difração de raios-x das fases cristalinas formadas durante o aquecimento até 1250°C dos argilominerais componentes de taguás da região de Jarinú, Jundiaí, SP.

Shirley Cosin A. C Vieira Coelho (Antonio Carlos) 1959-; Helena Lopes de Souza Santos; Pérsio de Souza Santos 1928-2012; Congresso Brasileiro de Cerâmica (48. 2004 Curitiba)

Anais. São Paulo : Associação Brasileira de Cerâmica, 2004

São Paulo Associação Brasileira de Cerâmica 2004

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Efeito da temperatura em massas cerâmicas contendo taguá de Jarinú com diferentes tipos de talco

Shirley Cosin A. C Vieira Coelho (Antonio Carlos) 1959-; Valquiria de Fátima Justo Kozievitch; Pérsio de Souza Santos 1928-2012; Congresso Brasileiro de Cerâmica (51 Salvador 2007)

Anais São Paulo: Associação Brasileira de Cerâmica, 2007

São Paulo Associação Brasileira de Cerâmica 2007

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