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Electron Spectroscopy From Solid Surfaces in Ultra-High Vacuum--A Discussion of Current Progress With Techniques Involving Electron (AES), Photon (ESCA) and Field-Stimulated Electron Emission
Electron Spectroscopy From Solid Surfaces in Ultra-High Vacuum--A Discussion of Current Progress With Techniques Involving Electron (AES), Photon (ESCA) and Field-Stimulated Electron Emission
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Electron Spectroscopy From Solid Surfaces in Ultra-High Vacuum--A Discussion of Current Progress With Techniques Involving Electron (AES), Photon (ESCA) and Field-Stimulated Electron Emission

Todd, C J

Vacuum, 1973-06, Vol.23 (6), p.195-203 [Periódico revisado por pares]

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2
Adhesion and friction of PTFE in contact with metals as studied by Auger spectroscopy, field ion and scanning electron microscopy
Adhesion and friction of PTFE in contact with metals as studied by Auger spectroscopy, field ion and scanning electron microscopy
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Adhesion and friction of PTFE in contact with metals as studied by Auger spectroscopy, field ion and scanning electron microscopy

Brainard, William A. ; Buckley, Donald H.

Wear, 1973-10, Vol.26 (1), p.75-93 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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3
Comparison of surface layer analysis techniques
Comparison of surface layer analysis techniques
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Comparison of surface layer analysis techniques

Mayer, J.W. ; Turos, A.

Thin solid films, 1973-12, Vol.19 (1), p.1-10 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes
Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes
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Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes

Colligon, JS

Vacuum, 1974-01, Vol.24 (9), p.373-388 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry
Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry
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Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry

Werner, H.W.

Vacuum, 1974-10, Vol.24 (10), p.493-504 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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6
Purity and morphology of aluminium films
Purity and morphology of aluminium films
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Purity and morphology of aluminium films

Dhere, Neelkanth G. ; Arsenio, Therezinha P. ; Patnaik, Bijoy K.

Thin solid films, 1975-01, Vol.30 (2), p.267-279 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
The Mössbauer effect and its applications at very low temperatures
The Mössbauer effect and its applications at very low temperatures
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The Mössbauer effect and its applications at very low temperatures

Williams, J.M.

Cryogenics, 1975-01, Vol.15 (6), p.307-322 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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8
Plasma Emission Sources in Analytical Spectroscopy. Pt. 2
Plasma Emission Sources in Analytical Spectroscopy. Pt. 2
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Plasma Emission Sources in Analytical Spectroscopy. Pt. 2

Greenfield, S ; McGeachin, H M D ; Smith, P B

Talanta (Oxford), 1975-07, Vol.22 (7), p.553-562 [Periódico revisado por pares]

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9
Oxidation of Cupronickel Alloys. Pt. 1. XPS (X-Ray Photo-Emission Spectroscopy) Study of Inter-Diffusion
Oxidation of Cupronickel Alloys. Pt. 1. XPS (X-Ray Photo-Emission Spectroscopy) Study of Inter-Diffusion
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Oxidation of Cupronickel Alloys. Pt. 1. XPS (X-Ray Photo-Emission Spectroscopy) Study of Inter-Diffusion

Castle, J E ; Nasserian-Riabi, M

Corrosion science, 1975-10, Vol.15 (9), p.537-543 [Periódico revisado por pares]

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10
Hydrogen-Induced States in VHx and VDx Observed by Soft X-Ray Emission Spectroscopy
Hydrogen-Induced States in VHx and VDx Observed by Soft X-Ray Emission Spectroscopy
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Hydrogen-Induced States in VHx and VDx Observed by Soft X-Ray Emission Spectroscopy

Fukai, Y ; Kazama, S ; Tanaka, K ; Matsumoto, M

Solid state communications, 1976-01, Vol.19 (6), p.507-509 [Periódico revisado por pares]

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