skip to main content
Primo Advanced Search
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search prefilters
Devido a um problema temporário, o resultado pode estar incompleto.
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
0
Material Type:
Capítulo de Livro
Adicionar ao Meu Espaço

0

Information Security Cost Management, 2007, p.149-160

Auerbach Publications

Sem texto completo

2
0 = 0, c'est le truc du noyau ! Application aux files d'attente
Material Type:
Ata de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

0 = 0, c'est le truc du noyau ! Application aux files d'attente

Bouillard, Anne ; Comte, Céline ; de Panafieu, Élie ; Mathieu, Fabien

Sem texto completo

3
0.00035 mm2 on-chip leakage sensing unit for various devices in 10 nm FinFET process
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

0.00035 mm2 on-chip leakage sensing unit for various devices in 10 nm FinFET process

Oh, G.-G ; Lee, Y.-W ; Lee, B

Electronics letters, 2018-02, Vol.54 (4), p.213-215 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

Texto completo disponível

4
A 0.000261 mm2 Single-Channel 1 GS/s 8-Bit 3-Stage Capacitor Array-Assisted Charge-Injection DAC-Based SAR ADC in 28 nm CMOS
Material Type:
Ata de Congresso
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.000261 mm2 Single-Channel 1 GS/s 8-Bit 3-Stage Capacitor Array-Assisted Charge-Injection DAC-Based SAR ADC in 28 nm CMOS

Kye, Chan-Ho ; Choo, Kyojin

2023 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), 2023, p.1-3

IEEE

Sem texto completo

5
A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.001-mm2 112.32-μW All-Digital PLL with Dual-Tuned DCO and Dual-Tuned Control Algorithm

Zhang, Peiyong ; Su, Yuquan ; Yang, Yiwei

Circuits, systems, and signal processing, 2022-03, Vol.41 (3), p.1563-1576 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

Texto completo disponível

6
A 0.0012 mm2 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.0012 mm2 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS

An, Eun-Ji ; Oh, Dong-Ryeol

Electronics (Basel), 2022-05, Vol.11 (11), p.1707 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

Texto completo disponível

7
A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.0012 mm[sup.2] 6-bit 700 MS/s 1 mW Calibration-Free Pseudo-Loop-Unrolled SAR ADC in 28 nm CMOS

An, Eun-Ji ; Oh, Dong-Ryeol

Electronics (Basel), 2022-06, Vol.11 (11) [Periódico revisado por pares]

MDPI AG

Texto completo disponível

8
A 0.0016 mm² 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.0016 mm² 0.64 nJ leakage-based CMOS temperature sensor

Ituero, Pablo ; López-Vallejo, Marisa ; López-Barrio, Carlos

Sensors (Basel, Switzerland), 2013-09, Vol.13 (9), p.12648-12662 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

Texto completo disponível

9
A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.0018 mm frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

10
A 0.0018 mm2 frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor
Material Type:
Artigo
Adicionar ao Meu Espaço

A 0.0018 mm2 frequency-to-digital-converter-based CMOS smart temperature sensor

Lee, Hokyu ; Kim, Kisoo ; Jung, Sangdon ; Song, Janghoon ; Kim, Jong-Kook ; Kim, Chulwoo

Analog integrated circuits and signal processing, 2010-08, Vol.64 (2), p.153-157 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

Texto completo disponível

Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (3.367.587)
  2. Recursos Online (5.982.759)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (3.957.284)
  2. magazinearticle  (977.303)
  3. Book Chapters  (913.929)
  4. Anais de Congresso  (821.725)
  5. Newsletter Articles  (675.907)
  6. Resenhas  (483.762)
  7. Artigos de Jornal  (370.082)
  8. Dissertações  (164.928)
  9. Livros  (107.422)
  10. Verbetes  (97.874)
  11. Imagens  (64.845)
  12. Reports  (58.659)
  13. Conjunto de Dados  (20.728)
  14. Recursos Textuais  (20.238)
  15. Web Resources  (19.750)
  16. Videos  (12.626)
  17. Documentos Governamentais  (3.080)
  18. Archival Material / Manuscripts  (3.070)
  19. Mapas  (2.838)
  20. Outros  (2.120)
  21. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
  1. Antes de1957  (179.951)
  2. 1957Até1973  (130.417)
  3. 1974Até1990  (331.059)
  4. 1991Até2008  (2.304.244)
  5. Após 2008  (5.794.673)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (8.383.259)
  2. Japonês  (326.749)
  3. Francês  (159.478)
  4. Alemão  (77.107)
  5. Espanhol  (47.938)
  6. Chinês  (32.481)
  7. Português  (26.469)
  8. Norueguês  (14.462)
  9. Italiano  (12.710)
  10. Russo  (8.358)
  11. Árabe  (6.768)
  12. Turco  (6.242)
  13. Coreano  (5.840)
  14. Catalão  (5.280)
  15. Holandês  (3.457)
  16. Tcheco  (3.282)
  17. Polonês  (3.010)
  18. Croatian  (2.250)
  19. Persa  (1.722)
  20. Sueco  (1.635)
  21. Mais opções open sub menu

Nome da Publicação 

  1. Pr Newswire  (126.878)
  2. Publishers Weekly  (102.874)
  3. Arxiv.Org  (86.760)
  4. New Statesman  (83.134)
  5. New York Times Book Review  (61.172)
  6. States News Service  (56.710)
  7. Building Design  (54.682)
  8. Architectural Record  (54.261)
  9. The Architectural Review  (53.566)
  10. New York Times  (42.564)
  11. Mais opções open sub menu

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.