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Comparison of surface layer analysis techniques
Comparison of surface layer analysis techniques
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Comparison of surface layer analysis techniques

Mayer, J.W. ; Turos, A.

Thin solid films, 1973-12, Vol.19 (1), p.1-10 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes
Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes
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Surface compositional analysis using low energy ion bombardment induced emission processes

Colligon, JS

Vacuum, 1974-01, Vol.24 (9), p.373-388 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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3
Magnetic domain contrast from ferromagnetic materials in the scanning electron microscope
Magnetic domain contrast from ferromagnetic materials in the scanning electron microscope
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Magnetic domain contrast from ferromagnetic materials in the scanning electron microscope

Ikuta, T. ; Shimizu, R.

Physica status solidi. A, Applied research, 1974-06, Vol.23 (2), p.605-613

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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4
Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry
Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry
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Theoretical and experimental aspects of secondary ion mass spectrometry

Werner, H.W.

Vacuum, 1974-10, Vol.24 (10), p.493-504 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
Stability of Field Electron Emission and Vacuum Breakdown. Investigations with Field Emission Microscopy and Auger Electron Spectroscopy
Stability of Field Electron Emission and Vacuum Breakdown. Investigations with Field Emission Microscopy and Auger Electron Spectroscopy
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Stability of Field Electron Emission and Vacuum Breakdown. Investigations with Field Emission Microscopy and Auger Electron Spectroscopy

Jüttner, B. ; Wolff, H. ; Altrichter, B.

Physica status solidi. A, Applied research, 1975-02, Vol.27 (2), p.403-412 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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6
Electronic Structure and 4f-Hole Lifetime in Rare-Earth Borides
Electronic Structure and 4f-Hole Lifetime in Rare-Earth Borides
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Electronic Structure and 4f-Hole Lifetime in Rare-Earth Borides

Chazalviel, J-N ; Campagna, M ; Wertheim, G K ; Schmidt, P H ; Yafet, Y

Physical review letters, 1976-10, Vol.37 (14), p.919-922 [Periódico revisado por pares]

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7
Oxidation Properties of GaAs (110) Surfaces
Oxidation Properties of GaAs (110) Surfaces
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Oxidation Properties of GaAs (110) Surfaces

Pianetta, P. ; Lindau, I. ; Garner, C. M. ; Spicer, W. E.

Physical review letters, 1976-10, Vol.37 (17), p.1166-1169 [Periódico revisado por pares]

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8
Effects of high-intensity electron bombardment on the secondary-emission characteristics of a MgO/Au-cermet film
Effects of high-intensity electron bombardment on the secondary-emission characteristics of a MgO/Au-cermet film
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Effects of high-intensity electron bombardment on the secondary-emission characteristics of a MgO/Au-cermet film

Dionne, Gerald F. ; Fitzgerald, James F.

Journal of applied physics, 1977-07, Vol.48 (7), p.3028-3031 [Periódico revisado por pares]

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9
Bremsstrahlung Resonances and Appearance-Potential Spectroscopy Near the 3d Thresholds in Metallic Ba, La and Ce
Bremsstrahlung Resonances and Appearance-Potential Spectroscopy Near the 3d Thresholds in Metallic Ba, La and Ce
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Bremsstrahlung Resonances and Appearance-Potential Spectroscopy Near the 3d Thresholds in Metallic Ba, La and Ce

Wendin, G ; Nuroh, K

Physical review letters, 1977-07, Vol.39 (1), p.48-51 [Periódico revisado por pares]

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10
Recent developments in monitoring and controlling techniques for alloy deposition processes
Recent developments in monitoring and controlling techniques for alloy deposition processes
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Recent developments in monitoring and controlling techniques for alloy deposition processes

Lu, C.

Thin solid films, 1977-09, Vol.45 (3), p.481-490 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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