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A Hazards-Based Correctness Statement for Pipelined Circuits
A Hazards-Based Correctness Statement for Pipelined Circuits
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Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

A Hazards-Based Correctness Statement for Pipelined Circuits

Aagaard, Mark D. Geist, Daniel ; Tronci, Enrico

Correct Hardware Design and Verification Methods, 2003, p.66-80 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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2
Relating Multi-step and Single-Step Microprocessor Correctness Statements
Relating Multi-step and Single-Step Microprocessor Correctness Statements
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Relating Multi-step and Single-Step Microprocessor Correctness Statements

Aagaard, Mark D. ; Day, Nancy A. ; Lou, Meng Aagaard, Mark D. ; O’Leary, John W.

Formal Methods in Computer-Aided Design, 2002, p.123-141 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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3
Xs Are for Trajectory Evaluation, Booleans Are for Theorem Proving
Xs Are for Trajectory Evaluation, Booleans Are for Theorem Proving
Material Type:
Capítulo de Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Xs Are for Trajectory Evaluation, Booleans Are for Theorem Proving

Aagaard, Mark D. ; Melham, Thomas F. ; O’Leary, John W. Pierre, Laurence ; Kropf, Thomas

Correct Hardware Design and Verification Methods, 1999, p.202-218 [Periódico revisado por pares]

Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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4
Trespass, nuisance, and spam: 11th century common law meets the internet
Trespass, nuisance, and spam: 11th century common law meets the internet
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Trespass, nuisance, and spam: 11th century common law meets the internet

AALBERTS, Robert J ; POON, Percy S ; THISTLE, Paul D

Communications of the ACM, 2007-12, Vol.50 (12), p.40-45

New York, NY: Association for Computing Machinery

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5
Hardware Support for Prescient Instruction Prefetch
Hardware Support for Prescient Instruction Prefetch
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Hardware Support for Prescient Instruction Prefetch

Aamodt, T.M. ; Chow, P. ; Hammarlund, P. ; Wang, Hong ; Shen, J.P.

10th International Symposium on High Performance Computer Architecture (HPCA'04), 2004, p.84-84

Los Alamitos CA: IEEE

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6
Transient current testing of dynamic CMOS circuits
Transient current testing of dynamic CMOS circuits
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Transient current testing of dynamic CMOS circuits

Aaraj, N. ; Nazer, A. ; Chehab, A. ; Kayssi, A.

19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2004. DFT 2004. Proceedings, 2004, p.264-271

Los Alamitos CA: IEEE

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7
Hybrid Architectures for Efficient and Secure Face Authentication in Embedded Systems
Hybrid Architectures for Efficient and Secure Face Authentication in Embedded Systems
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Hybrid Architectures for Efficient and Secure Face Authentication in Embedded Systems

Aaraj, N. ; Ravi, S. ; Raghunathan, A. ; Jha, N.K.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2007-03, Vol.15 (3), p.296-308 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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8
Quantum Money
Quantum Money
Material Type:
magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Quantum Money

AARONSON, Scott ; FARHI, Edward ; GOSSET, David ; HASSIDIM, Avinatan ; KELNER, Jonathan ; LUTOMIRSKI, Andrew

Communications of the ACM, 2012-08, Vol.55 (8), p.84-92

New York, NY: Association for Computing Machinery

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9
A cognitive science approach to metametric fuzziness
A cognitive science approach to metametric fuzziness
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A cognitive science approach to metametric fuzziness

Das, A.

Proceedings IEEE SoutheastCon 2002 (Cat. No.02CH37283), 2002, p.432-436

Piscataway NJ: IEEE

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10
Multiprocessor fault diagnosis under local constraints
Multiprocessor fault diagnosis under local constraints
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Multiprocessor fault diagnosis under local constraints

Das, A. ; Thulasiraman, K. ; Agarwal, V.K. ; Lakshmanan, K.B.

IEEE transactions on computers, 1993-08, Vol.42 (8), p.984-988 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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