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10T SRAM Using Half- V} Precharge and Row-Wise Dynamically Powered Read Port for Low Switching Power and Ultralow RBL Leakage
10T SRAM Using Half- V} Precharge and Row-Wise Dynamically Powered Read Port for Low Switching Power and Ultralow RBL Leakage
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10T SRAM Using Half- V} Precharge and Row-Wise Dynamically Powered Read Port for Low Switching Power and Ultralow RBL Leakage

Maroof, Naeem ; Bai-Sun Kong

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-04, Vol.25 (4), p.1193-1203 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
1974 Lake Arrowhead Workshop on structured programming
1974 Lake Arrowhead Workshop on structured programming
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1974 Lake Arrowhead Workshop on structured programming

Brown, R. R.

Computer (Long Beach, Calif.), 1974-10, Vol.7 (10), p.61-63 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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3
2005 EDOC: meeting the challenges of enterprise computing
2005 EDOC: meeting the challenges of enterprise computing
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

2005 EDOC: meeting the challenges of enterprise computing

Hung, P.C.K. ; van Sinderen, M.J.

IT professional, 2005-11, Vol.7 (6), p.44-45 [Periódico revisado por pares]

Washington: IEEE

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4
2018 Embedded Systems Week (ESWEEK) in Torino
2018 Embedded Systems Week (ESWEEK) in Torino
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2018 Embedded Systems Week (ESWEEK) in Torino

Ha, Soonhoi ; Eles, Petru

IEEE design and test, 2019-02, Vol.36 (1), p.68-69

Piscataway: IEEE Computer Society

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5
21st-Century Data Miners Meet 19th-Century Electrical Cables
21st-Century Data Miners Meet 19th-Century Electrical Cables
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21st-Century Data Miners Meet 19th-Century Electrical Cables

Rudin, C ; Passonneau, R J ; Radeva, A ; Ierome, S ; Isaac, D F

Computer (Long Beach, Calif.), 2011-06, Vol.44 (6), p.103-105 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
25 Years of Software
25 Years of Software
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25 Years of Software

Erdogmus, Hakan

IEEE software, 2008-11, Vol.25 (6), p.2-5 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos: IEEE

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3-D-TCAD-Based Parasitic Capacitance Extraction for Emerging Multigate Devices and Circuits
3-D-TCAD-Based Parasitic Capacitance Extraction for Emerging Multigate Devices and Circuits
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3-D-TCAD-Based Parasitic Capacitance Extraction for Emerging Multigate Devices and Circuits

Bhoj, Ajay N. ; Joshi, Rajiv V. ; Jha, Niraj K.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2013-11, Vol.21 (11), p.2094-2105 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
3-valued trace-based fault simulation of synchronous sequential circuits
3-valued trace-based fault simulation of synchronous sequential circuits
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3-valued trace-based fault simulation of synchronous sequential circuits

Song, O.Y. ; Menon, P.R.

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1993-09, Vol.12 (9), p.1419-1424 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation
A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation
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A 0.13- \mu \text CMOS Dynamically Reconfigurable Charge Pump for Electrostatic MEMS Actuation

Alameh, Abdul Hafiz ; Nabki, Frederic

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2017-04, Vol.25 (4), p.1261-1270 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator
A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator
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A 0.4-mW, 4.7-ps Resolution Single-Loop TDC Using a Half-Delay Time Integrator

Kwon, Chan-Keun ; Kim, Hoonki ; Park, Jongsun ; Kim, Soo-Won

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2016-03, Vol.24 (3), p.1184-1188 [Periódico revisado por pares]

New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)

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