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Experimental investigation of localized states in amorphous chalcogenide films
Experimental investigation of localized states in amorphous chalcogenide films
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Experimental investigation of localized states in amorphous chalcogenide films

Boţilă, T. ; Vancu, A. ; Lăzărescu, M. ; Vescan, L. ; Ioanid, Gr ; Slădaru, St

Thin solid films, 1972-01, Vol.12 (2), p.223-226 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
New investigation of the optical absorption of rare-earth thin films
New investigation of the optical absorption of rare-earth thin films
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New investigation of the optical absorption of rare-earth thin films

Petrakian, J P

Thin solid films, 1972-01, Vol.13 (2), p.269-273 [Periódico revisado por pares]

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3
Transport phenomena in thin films
Transport phenomena in thin films
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Transport phenomena in thin films

Hill, Robert M.

Thin solid films, 1972-01, Vol.12 (2), p.367-381 [Periódico revisado por pares]

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Influence of substrate temperature on basic electrical properties of CdSe thin films
Influence of substrate temperature on basic electrical properties of CdSe thin films
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Influence of substrate temperature on basic electrical properties of CdSe thin films

Šnejdar, V. ; Jerhot, J.

Thin solid films, 1972-01, Vol.11 (2), p.289-298 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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5
Surface diffusion in thin film couples
Surface diffusion in thin film couples
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Surface diffusion in thin film couples

Nenadovic, T

Thin solid films, 1972-01, Vol.12 (2), p.411-417 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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A study of vacuum-deposited films of CrTe and CrSe on single crystals
A study of vacuum-deposited films of CrTe and CrSe on single crystals
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A study of vacuum-deposited films of CrTe and CrSe on single crystals

Goswami, A. ; Nikam, P.S.

Thin solid films, 1972-01, Vol.11 (2), p.353-364 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
Increase in thickness of anodic films at constant overpotential
Increase in thickness of anodic films at constant overpotential
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Increase in thickness of anodic films at constant overpotential

Goad, D.G.W.

Thin solid films, 1972-01, Vol.10 (2), p.331-332 [Periódico revisado por pares]

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8
Status of thin film integrated circuit technology
Status of thin film integrated circuit technology
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Status of thin film integrated circuit technology

Basseches, H. ; Gerstenberg, D.

Thin solid films, 1972-01, Vol.12 (2), p.295-303 [Periódico revisado por pares]

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9
Cross-tie—Néel domain wall transition in thin magnetic films
Cross-tie—Néel domain wall transition in thin magnetic films
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Cross-tie—Néel domain wall transition in thin magnetic films

Sigov, A.S. ; Shishkov, A.G.

Thin solid films, 1972-01, Vol.10 (3), p.363-366 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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10
On the electron microprobe analysis of structured magnetic thin films
On the electron microprobe analysis of structured magnetic thin films
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On the electron microprobe analysis of structured magnetic thin films

Hieber, H.

Thin solid films, 1972-01, Vol.12 (1), p.29-34 [Periódico revisado por pares]

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