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Determination of Object Thickness in Electron Microscopy
Determination of Object Thickness in Electron Microscopy
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Determination of Object Thickness in Electron Microscopy

Marton, L. ; Schiff, L. I.

Journal of applied physics, 1941, Vol.12 (10), p.759-765 [Periódico revisado por pares]

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2
Irradiation of Biological Materials by High Energy Roentgen Rays and Cathode Rays
Irradiation of Biological Materials by High Energy Roentgen Rays and Cathode Rays
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Irradiation of Biological Materials by High Energy Roentgen Rays and Cathode Rays

Trump, J. G. ; Van De Graaff, R. J.

Journal of applied physics, 1948-07, Vol.19 (7), p.599-604 [Periódico revisado por pares]

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3
The Optical Equations of Three-Dimensional Photoelasticity
The Optical Equations of Three-Dimensional Photoelasticity
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The Optical Equations of Three-Dimensional Photoelasticity

Mindlin, Raymond D. ; Goodman, Lawrence E.

Journal of applied physics, 1949-01, Vol.20 (1), p.89-95 [Periódico revisado por pares]

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4
Analysis of the Metal-Strip Delay Structure for Microwave Lenses
Analysis of the Metal-Strip Delay Structure for Microwave Lenses
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Analysis of the Metal-Strip Delay Structure for Microwave Lenses

Cohn, S. B.

Journal of applied physics, 1949-01, Vol.20 (3), p.257-262 [Periódico revisado por pares]

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5
Some Magneto-Acoustic Effects in Nickel
Some Magneto-Acoustic Effects in Nickel
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Some Magneto-Acoustic Effects in Nickel

Rogers, T. F. ; Johnson, S. J.

Journal of applied physics, 1950-01, Vol.21 (10), p.1067-1068 [Periódico revisado por pares]

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6
A Note on the Approach of Narrow Band Noise after a Nonlinear Device to a Normal Probability Density
A Note on the Approach of Narrow Band Noise after a Nonlinear Device to a Normal Probability Density
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A Note on the Approach of Narrow Band Noise after a Nonlinear Device to a Normal Probability Density

Arthur, George R.

Journal of applied physics, 1952-01, Vol.23 (10), p.1143-1144 [Periódico revisado por pares]

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7
On the New Method of Measuring Dielectric Constant and Loss Angles of Semiconductors
On the New Method of Measuring Dielectric Constant and Loss Angles of Semiconductors
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On the New Method of Measuring Dielectric Constant and Loss Angles of Semiconductors

Ichijō, Bunjirō

Journal of applied physics, 1953-01, Vol.24 (3), p.307-311 [Periódico revisado por pares]

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8
Stability Investigation of the Nonlinear Periodic Oscillations
Stability Investigation of the Nonlinear Periodic Oscillations
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Stability Investigation of the Nonlinear Periodic Oscillations

Hayashi, Chihiro

Journal of applied physics, 1953-01, Vol.24 (3), p.344-348 [Periódico revisado por pares]

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9
The Field Emitter: Fabrication, Electron Microscopy, and Electric Field Calculations
The Field Emitter: Fabrication, Electron Microscopy, and Electric Field Calculations
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The Field Emitter: Fabrication, Electron Microscopy, and Electric Field Calculations

Dyke, W. P. ; Trolan, J. K. ; Dolan, W. W. ; Barnes, George

Journal of applied physics, 1953-01, Vol.24 (5), p.570-576 [Periódico revisado por pares]

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10
Current Fluctuation Phenomena in Current-Carrying Sliding Contacts
Current Fluctuation Phenomena in Current-Carrying Sliding Contacts
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Current Fluctuation Phenomena in Current-Carrying Sliding Contacts

Epprecht, G. W.

Journal of applied physics, 1954-01, Vol.25 (12), p.1473-1480 [Periódico revisado por pares]

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