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Acoustic manipulation of electron–hole pairs in GaAs at room temperature
Acoustic manipulation of electron–hole pairs in GaAs at room temperature
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Acoustic manipulation of electron–hole pairs in GaAs at room temperature

de Lima, M. M. ; Hey, R. ; Stotz, J. A. H. ; Santos, P. V.

Applied physics letters, 2004-04, Vol.84 (14), p.2569-2571 [Periódico revisado por pares]

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Fluorescence enhancement near single TiO2 nanodisks
Fluorescence enhancement near single TiO2 nanodisks
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Fluorescence enhancement near single TiO2 nanodisks

Lin, H.-J. ; de Oliveira Lima, K. ; Gredin, P. ; Mortier, M. ; Billot, L. ; Chen, Z. ; Aigouy, L.

Applied physics letters, 2017-12, Vol.111 (25) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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High-resolution imaging of cardiac biomagnetic fields using a low-transition-temperature superconducting quantum interference device microscope
High-resolution imaging of cardiac biomagnetic fields using a low-transition-temperature superconducting quantum interference device microscope
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High-resolution imaging of cardiac biomagnetic fields using a low-transition-temperature superconducting quantum interference device microscope

Fong, L. E. ; Holzer, J. R. ; McBride, K. ; Lima, E. A. ; Baudenbacher, F. ; Radparvar, M.

Applied physics letters, 2004-04, Vol.84 (16), p.3190-3192 [Periódico revisado por pares]

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Influence of O and C co-implantation on the lattice site of Er in GaN
Influence of O and C co-implantation on the lattice site of Er in GaN
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Influence of O and C co-implantation on the lattice site of Er in GaN

De Vries, B. ; Matias, V. ; Vantomme, A. ; Wahl, U. ; Rita, E. M. C. ; Alves, E. ; Lopes, A. M. L. ; Correia, J. G.

Applied physics letters, 2004-05, Vol.84 (21), p.4304-4306 [Periódico revisado por pares]

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Ion beam modification of topological insulator bismuth selenide
Ion beam modification of topological insulator bismuth selenide
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Ion beam modification of topological insulator bismuth selenide

Sharma, P. A. ; Lima Sharma, A. L. ; Hekmaty, M. ; Hattar, K. ; Stavila, V. ; Goeke, R. ; Erickson, K. ; Medlin, D. L. ; Brahlek, M. ; Koirala, N. ; Oh, S.

Applied physics letters, 2014-12, Vol.105 (24) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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6
Low-voltage electroluminescence of europium in zinc oxide thin films
Low-voltage electroluminescence of europium in zinc oxide thin films
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Low-voltage electroluminescence of europium in zinc oxide thin films

Lima, S. A. M. ; Davolos, M. R. ; Quirino, W. G. ; Legnani, C. ; Cremona, M.

Applied physics letters, 2007-01, Vol.90 (2), p.023503-023503-3 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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7
Modeling and performance of vanadium-oxide transition edge microbolometers
Modeling and performance of vanadium-oxide transition edge microbolometers
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Modeling and performance of vanadium-oxide transition edge microbolometers

de Almeida, L. A. L. ; Deep, G. S. ; Lima, A. M. N. ; Khrebtov, I. A. ; Malyarov, V. G. ; Neff, H.

Applied physics letters, 2004-10, Vol.85 (16), p.3605-3607 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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8
Spatially resolved photoluminescence of inversion domain boundaries in GaN-based lateral polarity heterostructures
Spatially resolved photoluminescence of inversion domain boundaries in GaN-based lateral polarity heterostructures
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Spatially resolved photoluminescence of inversion domain boundaries in GaN-based lateral polarity heterostructures

Schuck, P. J. ; Mason, M. D. ; Grober, R. D. ; Ambacher, O. ; Lima, A. P. ; Miskys, C. ; Dimitrov, R. ; Stutzmann, M.

Applied physics letters, 2001-08, Vol.79 (7), p.952-954 [Periódico revisado por pares]

United States: The American Physical Society

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9
Thermal dynamics of VO2 films within the metal–insulator transition: Evidence for chaos near percolation threshold
Thermal dynamics of VO2 films within the metal–insulator transition: Evidence for chaos near percolation threshold
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Thermal dynamics of VO2 films within the metal–insulator transition: Evidence for chaos near percolation threshold

de Almeida, L. A. L. ; Deep, G. S. ; Lima, A. M. N. ; Neff, H.

Applied physics letters, 2000-12, Vol.77 (26), p.4365-4367 [Periódico revisado por pares]

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