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Shear strength of shock-loaded polycrystalline tungsten
Shear strength of shock-loaded polycrystalline tungsten
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Shear strength of shock-loaded polycrystalline tungsten

Asay, J R ; Chhabildas, L C ; Dandekar, D P

Journal of applied physics, 1980-09, Vol.51 (9), p.4774-4783 [Periódico revisado por pares]

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Neutron damage in GaP : Zn,O light-emitting diodes
Neutron damage in GaP : Zn,O light-emitting diodes
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Neutron damage in GaP : Zn,O light-emitting diodes

Barnes, C. E.

Journal of applied physics, 1977-01, Vol.48 (5), p.1921-1927 [Periódico revisado por pares]

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3
Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In
Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In
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Photoluminescence in high-resistivity CdTe : In

Barnes, C. E. ; Zanio, K.

Journal of applied physics, 1975-09, Vol.46 (9), p.3959-3964 [Periódico revisado por pares]

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4
Studies of the spectral and spatial characteristics of shock-induced luminescence from X-cut quartz
Studies of the spectral and spatial characteristics of shock-induced luminescence from X-cut quartz
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Studies of the spectral and spatial characteristics of shock-induced luminescence from X-cut quartz

BRANNON, P. J ; KONRAD, C ; MORRIS, R. W ; JONES, E. D ; ASAY, J. R

Journal of applied physics, 1983-11, Vol.54 (11), p.6374-6381 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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5
Soft x-ray vacuum ultraviolet spectroscopy of thin targets heated by enhanced electron energy deposition
Soft x-ray vacuum ultraviolet spectroscopy of thin targets heated by enhanced electron energy deposition
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Soft x-ray vacuum ultraviolet spectroscopy of thin targets heated by enhanced electron energy deposition

Burns, E. J. T. ; Chang, J. ; Farnsworth, A. V. ; VanDevender, J. P. ; Widner, M. M. ; Goldstein, Steven A. ; Mendel, C. W. ; Quintenz, J. P. ; Doschek, G. A.

Journal of applied physics, 1980-05, Vol.51 (5), p.2569-2573 [Periódico revisado por pares]

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6
Equilibrium properties of thin-oxide metal-oxide-semiconductor diodes
Equilibrium properties of thin-oxide metal-oxide-semiconductor diodes
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Equilibrium properties of thin-oxide metal-oxide-semiconductor diodes

BUTLER, M. A ; SEAGER, C. H

Journal of applied physics, 1986-09, Vol.60 (6), p.2137-2141 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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7
An electro-optical technique for intense microwave measurements
An electro-optical technique for intense microwave measurements
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An electro-optical technique for intense microwave measurements

CHANG, J ; VITTITOE, C. N ; NEYER, B. T ; BALLARD, W. P

Journal of applied physics, 1985-06, Vol.57 (11), p.4843-4848 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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8
Variations of strain and light scattering accompanying domain switching in lead lanthanum zirconate titanate ceramics
Variations of strain and light scattering accompanying domain switching in lead lanthanum zirconate titanate ceramics
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Variations of strain and light scattering accompanying domain switching in lead lanthanum zirconate titanate ceramics

Chen, P J ; Land, C E

Journal of applied physics, 1980-09, Vol.51 (9), p.4961-4966 [Periódico revisado por pares]

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9
A velocity interferometer technique to determine shear-wave particle velocity in shock-loaded solids
A velocity interferometer technique to determine shear-wave particle velocity in shock-loaded solids
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A velocity interferometer technique to determine shear-wave particle velocity in shock-loaded solids

Chhabildas, L. C. ; Sutherland, H. J. ; Asay, J. R.

Journal of applied physics, 1979-08, Vol.50 (8), p.5196-5201 [Periódico revisado por pares]

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10
On the dynamical response of particulate-loaded materials. I. Pressure-shear loading of alumina particles in an epoxy matrix
On the dynamical response of particulate-loaded materials. I. Pressure-shear loading of alumina particles in an epoxy matrix
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On the dynamical response of particulate-loaded materials. I. Pressure-shear loading of alumina particles in an epoxy matrix

Chhabildas, L C ; Swegle, J W

Journal of applied physics, 1982-02, Vol.53 (2), p.954-956 [Periódico revisado por pares]

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