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1	Material Type: Artigo		Auction Mechanisms Toward Efficient Resource Sharing for Cloudlets in Mobile Cloud Computing A-Long Jin ; Wei Song ; Ping Wang ; Niyato, Dusit ; Peijian Ju IEEE transactions on services computing, 2016-11, Vol.9 (6), p.895-909 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		BEOL-Compatible Superlattice FEFET Analog Synapse With Improved Linearity and Symmetry of Weight Update Aabrar, Khandker Akif ; Kirtania, Sharadindu Gopal ; Liang, Fu-Xiang ; Gomez, Jorge ; Jose, Matthew San ; Luo, Yandong ; Ye, Huacheng ; Dutta, Sourav ; Ravikumar, Priyankka G. ; Ravindran, Prasanna Venkatesan ; Khan, Asif Islam ; Yu, Shimeng ; Datta, Suman IEEE transactions on electron devices, 2022-04, Vol.69 (4), p.2094-2100 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Impact of Denial of Service Attacks on Ad Hoc Networks Aad, I. ; Hubaux, J.-P. ; Knightly, E.W. IEEE/ACM transactions on networking, 2008-08, Vol.16 (4), p.791-802 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Software process improvement: Blueprints versus recipes Aaen, I. IEEE software, 2003-09, Vol.20 (5), p.86-93 [Periódico revisado por pares] Los Alamitos: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Multiphysics Modeling of RF and Microwave High-Power Transistors: SPECIAL ISSUE ON 2012 INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM AAEN, Peter H ; WOOD, John ; BRIDGES, Daren ; LEI ZHANG ; JOHNSON, Eric ; PLA, Jaime A ; BARBIERI, Travis ; SNOWDEN, Christopher M ; EVERETT, John P ; KEARNEY, Michael J IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2012, Vol.60 (12), p.4013-4023 [Periódico revisado por pares] New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		On the development of CAD techniques suitable for the design of high-power RF transistors Aaen, P.H. ; Pla, J.A. ; Balanis, C.A. IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2005-10, Vol.53 (10), p.3067-3074 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Modeling techniques suitable for CAD-based design of internal matching networks of high-power RF/microwave transistors Aaen, P.H. ; Pla, J.A. ; Balanis, C.A. IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2006-07, Vol.54 (7), p.3052-3059 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		PBS: proven Boolean simplification Aagaard, M. ; Leeser, M. IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 1994-04, Vol.13 (4), p.459-470 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Silicone rubber dielectrics modified by inorganic fillers for outdoor high voltage insulation applications Cherney, E.A. IEEE transactions on dielectrics and electrical insulation, 2005-12, Vol.12 (6), p.1108-1115 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Semantic approximation of data stream joins Das, A. ; Gehrke, J. ; Riedewald, M. IEEE transactions on knowledge and data engineering, 2005-01, Vol.17 (1), p.44-59 [Periódico revisado por pares] New York, NY: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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