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0.5-THz waveguide SIS mixers with NbN/AlN/NbN technology
0.5-THz waveguide SIS mixers with NbN/AlN/NbN technology
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0.5-THz waveguide SIS mixers with NbN/AlN/NbN technology

Li, Jing ; Takeda, Masanori ; Wang, Zhen ; Shi, Sheng-Cai

SPIE 2007

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2
1,000-year record of landslide dams at Halden Creek, northeastern British Columbia
1,000-year record of landslide dams at Halden Creek, northeastern British Columbia
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1,000-year record of landslide dams at Halden Creek, northeastern British Columbia

Geertsema, Marten ; Clague, John J.

Landslides, 2006-09, Vol.3 (3), p.217-227 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer Nature B.V

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3
1.3 GHz DDL on the basis of narrow reflecting groove microrelief
1.3 GHz DDL on the basis of narrow reflecting groove microrelief
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.3 GHz DDL on the basis of narrow reflecting groove microrelief

Gulyaev, Y.V. ; Grigorievski, V.I. ; Kmita, A.M. ; Krikunov, A.I. ; Sokolov, D.V.

1994 Proceedings of IEEE Ultrasonics Symposium, 1994, Vol.1, p.433-436 vol.1

IEEE

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4
1.3-μm InAs Quantum Dot Vertical Cavity Surface Emitting Lasers with Planar Electrodes Configuration
1.3-μm InAs Quantum Dot Vertical Cavity Surface Emitting Lasers with Planar Electrodes Configuration
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.3-μm InAs Quantum Dot Vertical Cavity Surface Emitting Lasers with Planar Electrodes Configuration

DING, Y ; FAN, W. J ; WANG, W ; XU, D. W ; TONG, C. Z ; LOKE, W. K ; YOON, S. F ; ZHANG, D. H ; LIU, Y ; ZHU, N. H ; ZHAO, L. J

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2009, Vol.7158

Bellingham, Wash: SPIE

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5
1.5-FET-per-pixel standard CMOS active column sensor
1.5-FET-per-pixel standard CMOS active column sensor
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.5-FET-per-pixel standard CMOS active column sensor

Zarnowski, Jeffrey J ; Pace, Matthew A ; Joyner, Michael

SPIE proceedings series, 1999, Vol.3649, p.186-196

Bellingham WA: SPIE

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6
1.5-μm eye-safe coherent lidar system for wind velocity measurement
1.5-μm eye-safe coherent lidar system for wind velocity measurement
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.5-μm eye-safe coherent lidar system for wind velocity measurement

Asaka, Kimio ; Yanagisawa, Takayuki ; Hirano, Yoshihito

SPIE proceedings series, 2001, Vol.4153, p.321-328

Bellingham WA: SPIE

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7
1.5-μm optical up-conversion: wafer fusion and related issues
1.5-μm optical up-conversion: wafer fusion and related issues
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

1.5-μm optical up-conversion: wafer fusion and related issues

Ban, Dayan ; Luo, Hui ; Liu, Hui-Chun ; SpringThorpe, Anthony J ; Wasilewski, Zbigniew R ; Bezinger, Andrew ; Bogdanov, Alexei ; Buchanan, Margaret

SPIE 2004

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8
A 0.15 - 4.98 GHz traveling-wave amplifier using packaged MESFET
A 0.15 - 4.98 GHz traveling-wave amplifier using packaged MESFET
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.15 - 4.98 GHz traveling-wave amplifier using packaged MESFET

Wilson, M. ; Sun, C.

2008 International Conference on Recent Advances in Microwave Theory and Applications, 2008, p.57-58

IEEE

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9
A 0.18- \mu m CMOS Array Sensor for Integrated Time-Resolved Fluorescence Detection
A 0.18- \mu m CMOS Array Sensor for Integrated Time-Resolved Fluorescence Detection
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.18- \mu m CMOS Array Sensor for Integrated Time-Resolved Fluorescence Detection

Huang, T.-c.D. ; Sorgenfrei, S. ; Gong, P. ; Levicky, R. ; Shepard, K.L.

IEEE journal of solid-state circuits, 2009-05, Vol.44 (5), p.1644-1654 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
A 0.18μm, 1.8-V CMOS High Gain Fully Differential Opamp Utilized in Pipelined ADC
A 0.18μm, 1.8-V CMOS High Gain Fully Differential Opamp Utilized in Pipelined ADC
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.18μm, 1.8-V CMOS High Gain Fully Differential Opamp Utilized in Pipelined ADC

Meaamar, A. ; Bin Othman, M. ; Omid Shoaei

2006 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics, 2006, p.656-660

IEEE

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