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1
Analytical Delay Evaluation for FPGA based Repetitive Controller in AC Variable Frequency Applications
Analytical Delay Evaluation for FPGA based Repetitive Controller in AC Variable Frequency Applications
Material Type:
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Analytical Delay Evaluation for FPGA based Repetitive Controller in AC Variable Frequency Applications

Faro, A. ; Lidozzi, A. ; Benedetto, M. di ; Solero, L.

IEEE open journal of industry applications, 2024-01, Vol.5, p.1-10 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
ExploreMaps: Efficient construction and ubiquitous exploration of panoramic view graphs of complex 3D environments
ExploreMaps: Efficient construction and ubiquitous exploration of panoramic view graphs of complex 3D environments
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ExploreMaps: Efficient construction and ubiquitous exploration of panoramic view graphs of complex 3D environments

Di Benedetto, M. ; Ganovelli, F. ; Balsa Rodriguez, M. ; Jaspe Villanueva, A. ; Scopigno, R. ; Gobbetti, E.

Computer graphics forum, 2014-05, Vol.33 (2), p.459-468 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Blackwell Publishing Ltd

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3
Integrated Design of Symbolic Controllers for Nonlinear Systems
Integrated Design of Symbolic Controllers for Nonlinear Systems
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Integrated Design of Symbolic Controllers for Nonlinear Systems

Pola, G. ; Borri, A. ; Di Benedetto, M. D.

IEEE transactions on automatic control, 2012-02, Vol.57 (2), p.534-539 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
A Survey on MAC Strategies for Cognitive Radio Networks
A Survey on MAC Strategies for Cognitive Radio Networks
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A Survey on MAC Strategies for Cognitive Radio Networks

De Domenico, A. ; Strinati, E. C. ; Di Benedetto, M.-G

IEEE Communications surveys and tutorials, 2012-01, Vol.14 (1), p.21-44 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Approximate Abstractions of Stochastic Hybrid Systems
Approximate Abstractions of Stochastic Hybrid Systems
Material Type:
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Approximate Abstractions of Stochastic Hybrid Systems

Abate, A. ; D'Innocenzo, A. ; Di Benedetto, M. D.

IEEE transactions on automatic control, 2011-11, Vol.56 (11), p.2688-2694 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Editorial Conference Comments by the General Chairman
Editorial Conference Comments by the General Chairman
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Editorial Conference Comments by the General Chairman

Benedetto, Joseph M.

IEEE transactions on nuclear science, 2010-12, Vol.57 (6), p.3002-3004 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
New methodology to assess activity status of occlusal caries in primary teeth using laser fluorescence device
New methodology to assess activity status of occlusal caries in primary teeth using laser fluorescence device
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

New methodology to assess activity status of occlusal caries in primary teeth using laser fluorescence device

Braga, Mariana M ; Benedetto, M. S ; Imparato, Jose C. P ; Mendes, Fausto M

Journal of Biomedical Optics, 2010-07, Vol.15 (4), p.047005-047005 [Periódico revisado por pares]

United States

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8
Cognitive Radio Technology[Guest Editorial]
Cognitive Radio Technology[Guest Editorial]
Material Type:
magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Cognitive Radio Technology[Guest Editorial]

Di Benedetto, Maria Gabriella ; Hua, Yingbo ; Kaiser, Thomas ; Wang, Xiaodong

IEEE signal processing magazine, 2008-11, Vol.25 (6), p.10-198

New York: IEEE

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9
Effects of Guard Bands and Well Contacts in Mitigating Long SETs in Advanced CMOS Processes
Effects of Guard Bands and Well Contacts in Mitigating Long SETs in Advanced CMOS Processes
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effects of Guard Bands and Well Contacts in Mitigating Long SETs in Advanced CMOS Processes

Narasimham, B. ; Bhuva, B.L. ; Schrimpf, R.D. ; Massengill, L.W. ; Gadlage, M.J. ; Holman, T.W. ; Witulski, A.F. ; Robinson, W.H. ; Black, J.D. ; Benedetto, J.M. ; Eaton, P.H.

IEEE transactions on nuclear science, 2008-06, Vol.55 (3), p.1708-1713 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Characterization of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in 130-nm and 90-nm CMOS Technologies
Characterization of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in 130-nm and 90-nm CMOS Technologies
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Characterization of Digital Single Event Transient Pulse-Widths in 130-nm and 90-nm CMOS Technologies

Narasimham, B. ; Bhuva, B.L. ; Schrimpf, R.D. ; Massengill, L.W. ; Gadlage, M.J. ; Amusan, O.A. ; Holman, W.T. ; Witulski, A.F. ; Robinson, W.H. ; Black, J.D. ; Benedetto, J.M. ; Eaton, P.H.

IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2506-2511 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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