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Partial $\mu$-capture in $^{10}$B and $^{14}$N
Partial $\mu$-capture in $^{10}$B and $^{14}$N
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Partial $\mu$-capture in $^{10}$B and $^{14}$N

Giffon, M. ; Guichon, P.A.M. ; Goncalves, A. ; Julien, J. ; Bihoreau, B. ; Roussel, L. ; Samour, C.

Nuclear Physics A, 1980, Vol.335 [Periódico revisado por pares]

Elsevier

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2
CHANGES IN PLATELET HALF-LIFE, SENSITIVITY TO PROSTANOIDS AND AGGREGATION INDUCED IN THE DOG BY BODY HYPOTHERMIA
CHANGES IN PLATELET HALF-LIFE, SENSITIVITY TO PROSTANOIDS AND AGGREGATION INDUCED IN THE DOG BY BODY HYPOTHERMIA
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

CHANGES IN PLATELET HALF-LIFE, SENSITIVITY TO PROSTANOIDS AND AGGREGATION INDUCED IN THE DOG BY BODY HYPOTHERMIA

Cunha-Ribeiro, L M ; Cunha, S ; Brandão, T ; Goncalves, F S ; Almeida-Dias, A ; Pina-Cabral, J M

Thrombosis and Haemostasis, 1987, Vol.58 (1) [Periódico revisado por pares]

Stuttgart: Schattauer GmbH

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3
A strategy for testability enhancement at layout level
A strategy for testability enhancement at layout level
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A strategy for testability enhancement at layout level

Teixeira, J.P. ; Teixeira, I.C. ; Almeida, C.F.B. ; Goncalves, F.M. ; Goncalves, J. ; Crespo, R.

Proceedings of the European Design Automation Conference, 1990., EDAC, 1990, p.413-417

IEEE Comput. Soc. Press

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4
Kinematics of joints of the foot via three-dimensional; magnetic resonance images
Kinematics of joints of the foot via three-dimensional; magnetic resonance images
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Kinematics of joints of the foot via three-dimensional; magnetic resonance images

Hirsch, B.E. ; Udupa, J.K. ; Goncalves, R.J. ; Roberts, D.

[1990] Proceedings of the First Conference on Visualization in Biomedical Computing, 1990, p.232-237

IEEE Comput. Soc. Press

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Citações Citado por
5
A strategy for testability enhancement at layout level
A strategy for testability enhancement at layout level
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A strategy for testability enhancement at layout level

Teixeira, J. P. ; Teixeira, I. C. ; Almeida, C. F. B. ; Gonçalves, F. M. ; Gonçalves, J. ; Crespo, R.

Proceedings of the conference on European design automation, 1990, p.413-417

Los Alamitos, CA, USA: IEEE Computer Society Press

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6
On the Physical Design of Testable CMOS Digital Circuits
On the Physical Design of Testable CMOS Digital Circuits
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

On the Physical Design of Testable CMOS Digital Circuits

Teixeira, J. P. ; Goncalves, F. M. ; Teixeira de Sousa, J. J.

ESSCIRC '90: Sixteenth European Solid-State Circuits Conference, 1990, Vol.1, p.109-112

IEEE

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7
High-quality physical designs of CMOS ICs
High-quality physical designs of CMOS ICs
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

High-quality physical designs of CMOS ICs

Sousa, J.J.T. ; Goncalves, F.M. ; Teixeira, J.P.

Euro ASIC '91, 1991, p.310-315

IEEE Comput. Soc. Press

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8
On the testability of realistic bridging faults
On the testability of realistic bridging faults
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

On the testability of realistic bridging faults

Santos, M.B. ; Sousa, J.J.T. ; Goncalves, F.M. ; Teixeira, J.P.

[Proceedings] 1991 International Workshop on Defect and Fault Tolerance on VLSI Systems, 1991, p.175-178

IEEE Comput. Soc. Press

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9
IC DEFECTS-BASED TESTABILITY ANALYSIS
IC DEFECTS-BASED TESTABILITY ANALYSIS
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

IC DEFECTS-BASED TESTABILITY ANALYSIS

Sousa, J.J.T. ; Goncalves, F.M. ; Teixeira, J.P.

1991, Proceedings. International Test Conference, 1991, p.500

IEEE

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10
Layout-level techniques for testability improvement of MOS physical designs
Layout-level techniques for testability improvement of MOS physical designs
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Layout-level techniques for testability improvement of MOS physical designs

Santos, M.B. ; Concalves, F.M. ; Sousa, J.J.T. ; Teixeira, J.P.

[1991 Proceedings] 6th Mediterranean Electrotechnical Conference, 1991, p.248-251 vol.1

IEEE

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  2. 1994Até2000  (73)
  3. 2001Até2007  (151)
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