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On the plastic deformation of charpy specimens prior to general yield
On the plastic deformation of charpy specimens prior to general yield
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On the plastic deformation of charpy specimens prior to general yield

Wilshaw, T.R. ; Pratt, P.L.

Journal of the mechanics and physics of solids, 1966, Vol.14 (1), p.7-19 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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2
Non-ohmic behaviour in amorphous germanium at high electric fields
Non-ohmic behaviour in amorphous germanium at high electric fields
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Non-ohmic behaviour in amorphous germanium at high electric fields

Croitoru, N. ; Vescan, L.

Thin solid films, 1969-01, Vol.3 (4), p.269-276 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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3
Low-Temperature Reduction of Fast Surface States Associated with Thermally Oxidized Silicon
Low-Temperature Reduction of Fast Surface States Associated with Thermally Oxidized Silicon
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Low-Temperature Reduction of Fast Surface States Associated with Thermally Oxidized Silicon

Castro, P. L. ; Deal, B. E.

Journal of the Electrochemical Society, 1971, Vol.118 (2), p.280 [Periódico revisado por pares]

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4
D.C. and A.C. in the dissolution and electropolishing of steel in organic H3PO4 baths
D.C. and A.C. in the dissolution and electropolishing of steel in organic H3PO4 baths
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D.C. and A.C. in the dissolution and electropolishing of steel in organic H3PO4 baths

Feliu, S. ; Gonzalez, J.A.

Corrosion science, 1971-05, Vol.11 (5), p.307-318 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
The Effects of Temperature Cycling on Aluminum-Film Interconnections
The Effects of Temperature Cycling on Aluminum-Film Interconnections
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The Effects of Temperature Cycling on Aluminum-Film Interconnections

Ghate, P. ; Blair, J.

IEEE transactions on parts, hybrids, and packaging, 1971-09, Vol.7 (3), p.134-138

IEEE

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6
Process Limitations in the Design of Distributed RC Networks
Process Limitations in the Design of Distributed RC Networks
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Process Limitations in the Design of Distributed RC Networks

Feisel, L. ; Jau-Yien Lee

IEEE transactions on parts, hybrids, and packaging, 1971-12, Vol.7 (4), p.163-167

IEEE

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7
Internal Stresses in Multilayered Structures
Internal Stresses in Multilayered Structures
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Internal Stresses in Multilayered Structures

Ghate, P. B. ; Hall, Lou H.

Journal of the Electrochemical Society, 1972, Vol.119 (4), p.491 [Periódico revisado por pares]

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8
Frequency response of Si-SiO2 interface states on thin oxide MOS capacitors
Frequency response of Si-SiO2 interface states on thin oxide MOS capacitors
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Frequency response of Si-SiO2 interface states on thin oxide MOS capacitors

Eaton, D. H. ; Sah, C. T.

Physica status solidi. A, Applied research, 1972-07, Vol.12 (1), p.95-109 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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9
Transport of sodium ions in silicon dioxide films using MOS structure
Transport of sodium ions in silicon dioxide films using MOS structure
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Transport of sodium ions in silicon dioxide films using MOS structure

Singh, B. R. ; Rai, S. S. ; Srivastava, R. S.

Physica status solidi. A, Applied research, 1972-09, Vol.13 (1), p.51-59 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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10
Photoemission from molecular crystals
Photoemission from molecular crystals
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Photoemission from molecular crystals

Sworakowski, J.

Physica status solidi. A, Applied research, 1972-10, Vol.13 (2), p.381-388 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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