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0. 073% (95% C. L. ) upper limit on 17keV neutrino admixture
0. 073% (95% C. L. ) upper limit on 17keV neutrino admixture
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0. 073% (95% C. L. ) upper limit on 17keV neutrino admixture

Ohshima, T.

AIP Conference Proceedings (American Institute of Physics); (United States), 1992, Vol.272:1 [Periódico revisado por pares]

United States

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2
0-1 integer linear programming model for location selection of fire station: A case study in Indonesia
0-1 integer linear programming model for location selection of fire station: A case study in Indonesia
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0-1 integer linear programming model for location selection of fire station: A case study in Indonesia

Bahri, Susila Apri, Mochamad ; Takeuchi, Yasuhiro

AIP Conference Proceedings, 2016, Vol.1723 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
0.1-micron-wide sandwich flux guide and free layer for spin dependent tunneling head sensors
0.1-micron-wide sandwich flux guide and free layer for spin dependent tunneling head sensors
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0.1-micron-wide sandwich flux guide and free layer for spin dependent tunneling head sensors

Pohm, A. V. ; Anderson, J. M.

Journal of applied physics, 2002-05, Vol.91 (10), p.8772-8773 [Periódico revisado por pares]

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4
0.1 ppm four‐terminal resistance bridge for use with a dilution refrigerator
0.1 ppm four‐terminal resistance bridge for use with a dilution refrigerator
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0.1 ppm four‐terminal resistance bridge for use with a dilution refrigerator

Edmunds, D. L. ; Pratt, W. P. ; Rowlands, J. A.

Review of scientific instruments, 1980-11, Vol.51 (11), p.1516-1522 [Periódico revisado por pares]

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5
0.1 ps resolution delay circuit for waveform measurement in the stroboscopic scanning electron microscope
0.1 ps resolution delay circuit for waveform measurement in the stroboscopic scanning electron microscope
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0.1 ps resolution delay circuit for waveform measurement in the stroboscopic scanning electron microscope

Fujioka, H ; Kunizawa, H ; Ura, K

Journal of physics. E, Scientific instruments, 1986-12, Vol.19 (12), p.1025-1026

London: IOP Publishing

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6
[0,1] truncated inverted Gamma-Inverted gamma distribution
[0,1] truncated inverted Gamma-Inverted gamma distribution
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

[0,1] truncated inverted Gamma-Inverted gamma distribution

Abid, Salah H. ; Kadhim, Fadhl J. Mohammed, Mohammed Ahmed

AIP Conference Proceedings, 2022, Vol.2394 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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7
0.1 μm WSiN-gate fabrication of GaAs metal-semiconductor field effect transistors using electron cyclotron resonance ion stream etching with SF 6 –CF 4 –SiF 4 –O 2
0.1 μm WSiN-gate fabrication of GaAs metal-semiconductor field effect transistors using electron cyclotron resonance ion stream etching with SF 6 –CF 4 –SiF 4 –O 2
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0.1 μm WSiN-gate fabrication of GaAs metal-semiconductor field effect transistors using electron cyclotron resonance ion stream etching with SF 6 –CF 4 –SiF 4 –O 2

Jin, Yoshito ; Takahashi, Chiharu ; Nishimura, Kazumi ; Ono, Toshiro ; Matsuo, Seitaro

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1997, Vol.15 (6), p.2639-2642

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8
0.1 μm x‐ray mask replication
0.1 μm x‐ray mask replication
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.1 μm x‐ray mask replication

Gentili, M. ; Kumar, R. ; Luciani, L. ; Grella, L. ; Plumb, D. ; Leonard, Q.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 1991-11, Vol.9 (6), p.3319-3323 [Periódico revisado por pares]

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9
0.11 μm x-ray mask replication
0.11 μm x-ray mask replication
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.11 μm x-ray mask replication

GENTILI, M ; KUMAR, R ; LUCIANI, L ; GRELLA, L ; PLUMB, D ; LEONARD, Q

Journal of vacuum science and technology. B. Microelectronics processing and phenomena, 1991, Vol.9 (6), p.3319-3323

New York, NY: American Institute of Physics

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10
0.15 - 3.72 THz absorption of aqueous salts and saline solutions
0.15 - 3.72 THz absorption of aqueous salts and saline solutions
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0.15 - 3.72 THz absorption of aqueous salts and saline solutions

Xu, Jing ; Plaxco, Kevin W. ; Allen, S. James ; Bjarnason, Jon E. ; Brown, Elliott R.

Applied physics letters, 2007-01, Vol.90 (3), p.031908-031908-3 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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