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Cryostat for Ultra-Low-Energy Threshold Germanium Spectrometers
Cryostat for Ultra-Low-Energy Threshold Germanium Spectrometers
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Cryostat for Ultra-Low-Energy Threshold Germanium Spectrometers

Aalseth, C. E. ; Bonicalzi, R. M. ; Fast, J. E. ; Hossbach, T. W. ; Orrell, J. L. ; Overman, C. T. ; Vandevender, B. A.

IEEE transactions on nuclear science, 2013-04, Vol.60 (2), p.1168-1174 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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A Low-Noise Germanium Ionization Spectrometer for Low-Background Science
A Low-Noise Germanium Ionization Spectrometer for Low-Background Science
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A Low-Noise Germanium Ionization Spectrometer for Low-Background Science

Aalseth, Craig E. ; Colaresi, Jim ; Collar, Juan I. ; Fast, James E. ; Hossbach, Todd W. ; Orrell, John L. ; Overman, Cory T. ; Scholz, Bjorn ; Vandevender, Brent A. ; Yocum, K. Michael

IEEE transactions on nuclear science, 2016-12, Vol.63 (6), p.2782-2792 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Configuring the LHCb readout network using a database
Configuring the LHCb readout network using a database
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Configuring the LHCb readout network using a database

Abadie, L.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-06, Vol.53 (3), p.995-1001 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
A device Simulation and model verification of single event transients in n+-p junctions
A device Simulation and model verification of single event transients in n+-p junctions
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A device Simulation and model verification of single event transients in n+-p junctions

Abadir, G.B ; Fikry, W ; Ragai, H.F ; Omar, O.A

IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1518 [Periódico revisado por pares]

New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)

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Dose Rate Tolerant HEXFET Power Supply
Dose Rate Tolerant HEXFET Power Supply
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Dose Rate Tolerant HEXFET Power Supply

Abare, W. E. ; Martindale, W. K.

IEEE transactions on nuclear science, 1981-01, Vol.28 (6), p.4380-4383 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Flash X-Ray Testing of ER3400 EAROMS
Flash X-Ray Testing of ER3400 EAROMS
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Flash X-Ray Testing of ER3400 EAROMS

Abare, W. E. ; Riley, R. M. ; Thygeson, T. L.

IEEE transactions on nuclear science, 1983-01, Vol.30 (6), p.4285-4289 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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New Techniques for Improving the Performance of the Lockstep Architecture for SEEs Mitigation in FPGA Embedded Processors
New Techniques for Improving the Performance of the Lockstep Architecture for SEEs Mitigation in FPGA Embedded Processors
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New Techniques for Improving the Performance of the Lockstep Architecture for SEEs Mitigation in FPGA Embedded Processors

Abate, F. ; Sterpone, L. ; Lisboa, C.A. ; Carro, L. ; Violante, M.

IEEE transactions on nuclear science, 2009-08, Vol.56 (4), p.1992-2000 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
A New Mitigation Approach for Soft Errors in Embedded Processors
A New Mitigation Approach for Soft Errors in Embedded Processors
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A New Mitigation Approach for Soft Errors in Embedded Processors

Abate, F. ; Sterpone, L. ; Violante, M.

IEEE transactions on nuclear science, 2008-08, Vol.55 (4), p.2063-2069 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Quantitative dynamic imaging of biological processes with solid state radiation detector
Quantitative dynamic imaging of biological processes with solid state radiation detector
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Quantitative dynamic imaging of biological processes with solid state radiation detector

Abate, L. ; Bertolucci, E. ; Conti, M. ; Di Cosmo, A. ; Di Cristo, C. ; Mettivier, G. ; Montesi, M.C. ; Russo, P.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.1907-1910 [Periódico revisado por pares]

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Digital System for Acquisition and Processing of Detected Images
Digital System for Acquisition and Processing of Detected Images
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Digital System for Acquisition and Processing of Detected Images

Abba, A. ; Fiorini, C. ; Geraci, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2012-06, Vol.59 (3), p.552-560 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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