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Optical second-harmonic phase spectroscopy of the Si(111)–SiO2 interface
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Optical second-harmonic phase spectroscopy of the Si(111)–SiO2 interface

Aktsipetrov, O.A. ; Dolgova, T.V. ; Fedyanin, A.A. ; Schuhmacher, D. ; Marowsky, G.

Thin solid films, 2000-03, Vol.364 (1-2), p.91-94 [Periódico revisado por pares]

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2
Study of the switching phenomena of TlGaS2 single crystals
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Study of the switching phenomena of TlGaS2 single crystals

Al Ghamdi, A.A. ; Nagat, A.T. ; Bahabri, F.S. ; Al Orainy, R.H. ; Al Garni, S.E.

Applied surface science, 2011-02, Vol.257 (8), p.3205-3210 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Electromigration in thin gold films on molybdenum surfaces
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Electromigration in thin gold films on molybdenum surfaces

Blech, I.A. ; Kinsbron, E.

Thin solid films, 1975-02, Vol.25 (2), p.327-334 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Deposition and characterization of laser ablated poly(p-phenylene sulfide) thin films
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Deposition and characterization of laser ablated poly(p-phenylene sulfide) thin films

Das, A ; Bera, S ; Joseph, M ; Sivakumar, N ; Patnaik, A

Applied surface science, 1998-09, Vol.135 (1-4), p.37-45 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
EFM phase investigation of the metal–organic film interface
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EFM phase investigation of the metal–organic film interface

Das, A. ; Lei, C.H. ; Thomas, H.E. ; Elliott, M. ; Macdonald, J.E. ; Glarvey, P. ; Turner, M.L.

Applied surface science, 2006-05, Vol.252 (15), p.5477-5480 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Influence of substrate surfaces on the growth of organic films
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Influence of substrate surfaces on the growth of organic films

Das, A ; Salvan, G ; Kampen, T.U ; Hoyer, W ; Zahn, D.R.T

Applied surface science, 2003-05, Vol.212-213, p.433-437 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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7
A comparative study of electronic properties of the defects introduced in p -Si: (i) During electron beam deposition of Ti/Mo, (ii) by proton irradiation, and (iii) by electron irradiation
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A comparative study of electronic properties of the defects introduced in p -Si: (i) During electron beam deposition of Ti/Mo, (ii) by proton irradiation, and (iii) by electron irradiation

Das, A.G.M. ; Nyamhere, C. ; Auret, F.D. ; Hayes, M.

Surface & coatings technology, 2009-06, Vol.203 (17), p.2628-2631 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Spontaneous nanostructural island formation and layer-to-island mass transport in Ge layers on Si(111) surfaces
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Spontaneous nanostructural island formation and layer-to-island mass transport in Ge layers on Si(111) surfaces

Das, Amal K ; Ghose, S.K ; Dev, B.N ; Kuri, G ; Yang, T.R

Applied surface science, 2000, Vol.165 (4), p.260-270 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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9
Investigating wettability and optical properties of PADC polymer irradiated by low energy Ar ions
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Investigating wettability and optical properties of PADC polymer irradiated by low energy Ar ions

El-Saftawy, A.A. ; Abd El Aal, S.A. ; Badawy, Z.M. ; Soliman, B.A.

Surface & coatings technology, 2014-08, Vol.253, p.249-254 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Formation of titanium silicide thin films on Si(100) substrate by RF plasma CVD
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Formation of titanium silicide thin films on Si(100) substrate by RF plasma CVD

Fouad, O.A. ; Yamazato, M. ; Hiroshi, A. ; Era, M. ; Nagano, M.

Surface & coatings technology, 2003-06, Vol.169, p.632-635 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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