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(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method
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(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method

Guo, Dongyun ; Ju, Yang ; Fu, Chengju ; Huang, Zhixiong ; Zhang, Lianmeng

Materials science--Poland, 2016-09, Vol.34 (3), p.555-563 [Periódico revisado por pares]

De Gruyter

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2
(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY
(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY
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(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY

NAKAYAMA, YU

Modern physics letters A, 2013-12, Vol.28 (38), p.1350178 [Periódico revisado por pares]

Singapore: World Scientific Publishing Company

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3
0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System
0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System
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0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System

Higashiki, Tatsuhiko ; Tojo, Toru ; Takahashi, Yoshihiko ; Tabata, Mitsuo ; Nishizaka, Takeshi ; Kuwabara, Osamu ; Uchida, Norio ; Yoshino, Hisakazu ; Saito, Susumu

Japanese Journal of Applied Physics, 1992-12, Vol.31 (12S), p.4161 [Periódico revisado por pares]

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4
0.06%C鋼面上のW-Coメッキ層およびその浸炭層の酸化について
0.06%C鋼面上のW-Coメッキ層およびその浸炭層の酸化について
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0.06%C鋼面上のW-Coメッキ層およびその浸炭層の酸化について

山本, 久

日本金属学会誌, 1960, Vol.24(7), pp.421-424 [Periódico revisado por pares]

公益社団法人 日本金属学会

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5
0.06%C鋼面上のW-Co鍍金層の構造について
0.06%C鋼面上のW-Co鍍金層の構造について
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0.06%C鋼面上のW-Co鍍金層の構造について

吉岡, 正三 ; 山本, 久 ; 星野, 明彦

日本金属学会誌, 1959, Vol.23(2), pp.132-134 [Periódico revisado por pares]

公益社団法人 日本金属学会

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6
0.1-1-THz High-Repetition-Rate Femtosecond Pulse Generation From Quasi-CW Dual-Pumped All-Fiber Phase-Locked Kerr Combs
0.1-1-THz High-Repetition-Rate Femtosecond Pulse Generation From Quasi-CW Dual-Pumped All-Fiber Phase-Locked Kerr Combs
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0.1-1-THz High-Repetition-Rate Femtosecond Pulse Generation From Quasi-CW Dual-Pumped All-Fiber Phase-Locked Kerr Combs

Luo, Zhengqian ; Zhong, Min ; Ruan, Qiujun ; Huang, Yizhong ; Guo, Changlei ; Xu, Huiying ; Che, Kaijun ; Xu, Bin ; Cai, Zhiping

IEEE photonics journal, 2016-04, Vol.8 (2), p.1-7 [Periódico revisado por pares]

Piscataway: IEEE

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7
0.1–10-keV x-ray-induced electron emissions from solids—Models and secondary electron measurements
0.1–10-keV x-ray-induced electron emissions from solids—Models and secondary electron measurements
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0.1–10-keV x-ray-induced electron emissions from solids—Models and secondary electron measurements

Henke, Burton L. ; Smith, Jerel A. ; Attwood, David T.

Journal of applied physics, 1977-05, Vol.48 (5), p.1852-1866 [Periódico revisado por pares]

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8
0.1-20 THz ultra-broadband perfect absorber via a flat multi-layer structure
0.1-20 THz ultra-broadband perfect absorber via a flat multi-layer structure
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0.1-20 THz ultra-broadband perfect absorber via a flat multi-layer structure

Xu, Gongjie ; Zhang, Jun ; Zang, Xiaofei ; Sugihara, Okihiro ; Zhao, Hongwei ; Cai, Bin

Optics express, 2016-10, Vol.24 (20), p.23177-23185 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography
0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography
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0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography

Hashimoto, Kazuhiko ; Yasuda, Masaaki ; Hirai, Yoshihiko ; Kawakita, Kenji ; Nomura, Noboru ; Murata, Kenji

Japanese Journal of Applied Physics, 1989-12, Vol.28 (12A), p.L2281 [Periódico revisado por pares]

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10
0.12–0.54 MeV C60 ion impacts on a poly(methyl methacrylate) target: Characterization through emission properties of negative secondary ions
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0.12–0.54 MeV C60 ion impacts on a poly(methyl methacrylate) target: Characterization through emission properties of negative secondary ions

Hirata, K. ; Yamada, K. ; Chiba, A. ; Hirano, Y. ; Narumi, K. ; Saitoh, Y.

Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms, 2019-12, Vol.460, p.161-164 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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