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1	Material Type: Artigo		A CVD diamond beam telescope for charged particle tracking Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, R. ; de Boer, W. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Dulinski, W. ; Doroshenko, J. ; Doucet, M. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fischer, P. ; Fizzotti, F. ; Kania, D. ; Gan, K.K. ; Grigoriev, E. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Keil, M. ; Knopfle, K.T. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Meuser, S. ; Logiudice, A. ; mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Menichelli, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Noomen, J. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Perera, L. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Weilhammer, P. ; Wermes, N. ; Wetstein, M. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M. IEEE transactions on nuclear science, 2002-08, Vol.49 (4), p.1857-1862 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		CVD diamond sensors for charged particle detection Krammer, M. ; Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; Bertuccio, G. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Deneuville, A. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fizzotti, F. ; Foulon, F. ; Friedl, M. ; Gan, K.K. ; Gheeraert, E. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kania, D. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Koeth, T. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; MacLynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Peitz, A. ; Perera, L. ; Pirollo, S. ; Procario, M. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rousseau, L. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Tapper, R.J. ; Tesarek, R. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Walsh, A.M. ; Wedenig, R. ; Weilhammer, P. ; Wetstein, M. ; White, C. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M. Diamond and related materials, 2001-09, Vol.10 (9), p.1778-1782 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Deposition of microcrystalline intrinsic silicon by the Electrical Asymmetry Effect technique Hrunski, D. ; Mootz, F. ; Zeuner, A. ; Janssen, A. ; Rost, H. ; Beckmann, R. ; Binder, S. ; Schüngel, E. ; Mohr, S. ; Luggenhölscher, D. ; Czarnetzki, U. ; Grabosch, G. Vacuum, 2013-01, Vol.87, p.114-118 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Diamond Pixel Detectors Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; Bertuccio, G. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Deneuville, A. ; Doroshenko, J. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fizzotti, F. ; Foster, J. ; Foulon, F. ; Friedl, M. ; Gan, K.K. ; Gheeraert, E. ; Gobbi, B. ; Grim, G.P. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kania, D. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Lander, R. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Perera, L. ; Pirollo, S. ; Plano, R. ; Procario, M. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rott, C. ; Rousseau, L. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Tapper, R.J. ; Tesarek, R. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Wedenig, R. ; Weilhammer, P. ; White, C. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M. Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2001-06, Vol.465 (1), p.88-91 [Periódico revisado por pares] Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		High Electric Field Induced Degradation of the DC Characteristics in Si/SiGe HEMT’s Kuchenbecker, J. ; Borgarino, M. ; Zeuner, M. ; König, U. ; Plana, R. ; Fantini, F. Microelectronics and reliability, 2003-09, Vol.43 (9), p.1719-1723 [Periódico revisado por pares] Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Ata de Congresso		Ion Beam Figuring (IBF) for high Precision Optics becomes affordable KIONTKE, Sven ; DEMMLER, Marcel ; ZEUNER, Michael ; ALLENSTEIN, Frank ; DUNGER, Thoralf ; NESTLER, Matthias Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2010, Vol.7786 Bellingham, Wash: SPIE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Ata de Congresso		Long-range correlations and the random mass Dirac model on an integrated optical platform Keil, R. ; Zeuner, J. M. ; Dreisow, F. ; Heinrich, M. ; Tunnermann, A. ; Nolte, S. ; Szameit, A. 2013 Conference on Lasers & Electro-Optics Europe & International Quantum Electronics Conference CLEO EUROPE/IQEC, 2013, p.1-1 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Micro-strip sensors based on CVD diamond Adam, W ; Berdermann, E ; Bergonzo, P ; Bertuccio, G ; Bogani, F ; Borchi, E ; Brambilla, A ; Bruzzi, M ; Colledani, C ; Conway, J ; D'Angelo, P ; Dabrowski, W ; Delpierre, P ; Deneuville, A ; Dulinski, W ; van Eijk, B ; Fallou, A ; Fizzotti, F ; Foulon, F ; Friedl, M ; Gan, K.K ; Gheeraert, E ; Hallewell, G ; Han, S ; Hartjes, F ; Hrubec, J ; Husson, D ; Kagan, H ; Kania, D ; Kaplon, J ; Kass, R ; Koeth, T ; Krammer, M ; Logiudice, A ; Lu, R ; mac Lynne, L ; Manfredotti, C ; Meier, D ; Mishina, M ; Moroni, L ; Oh, A ; Pan, L.S ; Pernicka, M ; Peitz, A ; Perera, L ; Pirollo, S ; Procario, M ; Riester, J.L ; Roe, S ; Rousseau, L ; Rudge, A ; Russ, J ; Sala, S ; Sampietro, M ; Schnetzer, S ; Sciortino, S ; Stelzer, H ; Stone, R ; Suter, B ; Tapper, R.J ; Tesarek, R ; Trischuk, W ; Tromson, D ; Vittone, E ; Walsh, A.M ; Wedenig, R ; Weilhammer, P ; Wetstein, M ; White, C ; Zeuner, W ; Zoeller, M Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2000-10, Vol.453 (1), p.141-148 [Periódico revisado por pares] Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Mo/Si multilayers for EUV lithography by ion beam sputter deposition Chassé, T. ; Neumann, H. ; Ocker, B. ; Scherer, M. ; Frank, W. ; Frost, F. ; Hirsch, D. ; Schindler, A. ; Wagner, G. ; Lorenz, M. ; Otto, G. ; Zeuner, M. ; Rauschenbach, B. Vacuum, 2003-05, Vol.71 (3), p.407-415 [Periódico revisado por pares] Oxford: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Ata de Congresso		Negative coupling between two defect waveguides embedded in an array Zeuner, J. M. ; Rechtsman, M. C. ; Keil, R. ; Dreisow, F. ; Tunnermann, A. ; Nolte, S. ; Szameit, A. 2012 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2012, p.1-2 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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