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Implications of new measurements of O-16 + p + C-12,13, N-14,15 for the abundances of C, N isotopes at the cosmic ray source
Implications of new measurements of O-16 + p + C-12,13, N-14,15 for the abundances of C, N isotopes at the cosmic ray source
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Implications of new measurements of O-16 + p + C-12,13, N-14,15 for the abundances of C, N isotopes at the cosmic ray source

Guzik, T. G. ; Wefel, J. P. ; Crawford, H. J. ; Greiner, D. E. ; Lindstrom, P. J. ; Schimmerling, W. ; Symons, T. J. M.

Legacy CDMS 1985

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2
Some Considerations Of Network Reliability Of Na/s Load Leveling Batteries
Some Considerations Of Network Reliability Of Na/s Load Leveling Batteries
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Some Considerations Of Network Reliability Of Na/s Load Leveling Batteries

Weaver, R.D. ; Symons, P.C. ; Tanzella, F.L.

Proceedings of the 25th Intersociety Energy Conversion Engineering Conference, 1990, Vol.3, p.354-361

IEEE

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3
Characteristics of latex agglutination test based on monoclonal antibodies for the detection of fungal antigens in foods
Characteristics of latex agglutination test based on monoclonal antibodies for the detection of fungal antigens in foods
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Characteristics of latex agglutination test based on monoclonal antibodies for the detection of fungal antigens in foods

Stynen, D ; Meulemans, L ; Goris, A ; Braendlin, N ; Symons, N

Developments in food science, 1992, Vol.31, p.213-219 [Periódico revisado por pares]

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4
BEAM SWITCH TUBE MODULATOR TECHNOLOGY FOR PLASMA ION IMPLANTATION BROAD INDUSTRIAL APPLICATIONS
BEAM SWITCH TUBE MODULATOR TECHNOLOGY FOR PLASMA ION IMPLANTATION BROAD INDUSTRIAL APPLICATIONS
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BEAM SWITCH TUBE MODULATOR TECHNOLOGY FOR PLASMA ION IMPLANTATION BROAD INDUSTRIAL APPLICATIONS

Deb, D. ; Siambis, J. ; Symons, R. ; Genovese, J.

Ninth IEEE International Pulsed Power Conference, 1993, Vol.1, p.333

IEEE

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5
The hydrogen embrittlement of alloy X-750
The hydrogen embrittlement of alloy X-750
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The hydrogen embrittlement of alloy X-750

Symons, D M ; Thompson, A W

Hydrogen Effects in Materials; Moran, Wyoming; USA; 11-14 Sept. 1994, 1994, p.465-474

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6
Silicon field emitter array design for 10 GHz modulation
Silicon field emitter array design for 10 GHz modulation
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Silicon field emitter array design for 10 GHz modulation

Palmer, D. ; Shaw, J. ; Gray, H. ; Mancusi, J. ; McGuire, G.E. ; Ball, C. ; Temple, D. ; Vellenga, D. ; Yadon, L. ; True, R. ; Hargreaves, T. ; Symons, R. ; Joines, W.

International Conference on Plasma Science (papers in summary form only received), 1995, p.134

IEEE

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7
Growth of InAs/GaSb strained layer superlattices. II
Growth of InAs/GaSb strained layer superlattices. II
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Growth of InAs/GaSb strained layer superlattices. II

BOOKER, G. R ; KLIPSTEIN, P. C ; LAKRIMI, M ; LYAPIN, S ; MASON, N. J ; MURGATROYD, I. J ; NICHOLAS, R. J ; SEONG, T.-Y ; SYMONS, D. M ; WALKER, P. J

Journal of crystal growth, 1995, Vol.146 (1-4), p.495-502 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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8
Silicon field emission electron beam sources
Silicon field emission electron beam sources
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Silicon field emission electron beam sources

Palmer, D. ; Shaw, J. ; Gray, H. ; Mancusi, J. ; McGuire, G.E. ; Ball, C. ; Temple, D. ; Vellenga, D. ; Yadon, L. ; True, R. ; Hargreaves, T. ; Symons, R. ; Joines, W.

International Conference on Plasma Science (papers in summary form only received), 1995, p.281-282

IEEE

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9
Element analysis by scattered neutron spectrometry
Element analysis by scattered neutron spectrometry
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Element analysis by scattered neutron spectrometry

Brooks, F. D ; Henderson, C. G ; Allie, M. S ; Buffler, Andy ; Oliver, M. J ; Nchodu, M. R ; Jones, D. T ; Simpson, B. R. S ; Smit, F. D ; Symons, J. E

SPIE 1995

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10
Observation of the zero Hall resistance state in a semimetallic superlattice
Observation of the zero Hall resistance state in a semimetallic superlattice
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Observation of the zero Hall resistance state in a semimetallic superlattice

DALY, M. S ; DALTON, K. S. H ; LAKRIMI, M ; MASON, N. J ; MAUDE, D. K ; NICHOLAS, R. J ; PORTAL, J. C ; SYMONS, D. M ; VAN DER BURGT, M ; WALKER, P. J

Surface science, 1996, Vol.361-62 (1-3), p.481-484 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier Science

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  2. 1993Até1996  (10)
  3. 1997Até2002  (4)
  4. 2003Até2010  (9)
  5. Após 2010  (3)
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