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172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films
172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films
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172 nm excimer VUV-triggered photodegradation and micropatterning of aminosilane films

Elsner, Christian ; Naumov, Sergej ; Zajadacz, Joachim ; Buchmeiser, Michael R.

Thin solid films, 2009-10, Vol.517 (24), p.6772-6776 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms
2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms
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2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms

Rössner, Benjamin ; von Känel, Hans ; Chrastina, Daniel ; Isella, Giovanni ; Batlogg, Bertram

Thin solid films, 2006-06, Vol.508 (1), p.351-354 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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3
2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures
2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures
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2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures

Osipowicz, T. ; Teo, E.J. ; Bettiol, A.A. ; Watt, F. ; Hao, M.S. ; Chua, S.J.

Thin solid films, 2003-01, Vol.424 (1), p.139-142 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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4
a-Si/SiOx Bragg-reflectors on micro-structured InP
a-Si/SiOx Bragg-reflectors on micro-structured InP
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a-Si/SiOx Bragg-reflectors on micro-structured InP

SCHMIDT-GRUND, R ; NOBIS, T ; GOTTSCHALCH, V ; RHEINLÄNDER, B ; HERRNBERGER, H ; GRUNDMANN, M

Thin solid films, 2005-07, Vol.483 (1-2), p.257-260 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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5
a-Si:H/μc-Si:H solar cells prepared by the single-chamber processes—minimization of phosphorus and boron cross contamination
a-Si:H/μc-Si:H solar cells prepared by the single-chamber processes—minimization of phosphorus and boron cross contamination
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a-Si:H/μc-Si:H solar cells prepared by the single-chamber processes—minimization of phosphorus and boron cross contamination

Merdzhanova, Tsvetelina ; Zimmermann, Thomas ; Zastrow, Uwe ; Gordijn, Aad ; Beyer, Wolfhard

Thin solid films, 2013-07, Vol.540, p.251-255 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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Abrupt changes in neon discharge plasma detected via the optogalvanic effect
Abrupt changes in neon discharge plasma detected via the optogalvanic effect
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Abrupt changes in neon discharge plasma detected via the optogalvanic effect

Han, Xianming L. ; Blosser, Michael C. ; Misra, Prabhakar ; Chandran, Haridass

Thin solid films, 2012-10, Vol.521, p.155-157 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Accompanying growth and room-temperature ferromagnetism of η-Mn3N2 thin films by molecular beam epitaxy
Accompanying growth and room-temperature ferromagnetism of η-Mn3N2 thin films by molecular beam epitaxy
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Accompanying growth and room-temperature ferromagnetism of η-Mn3N2 thin films by molecular beam epitaxy

Yu, Fengmei ; Liu, Yajing ; Yang, Mei ; Wu, Shuxiang ; Zhou, Wenqi ; Li, Shuwei

Thin solid films, 2013-03, Vol.531, p.228-232 [Periódico revisado por pares]

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8
Achieving uniform layer deposition by atmospheric-pressure plasma-enhanced chemical vapor deposition
Achieving uniform layer deposition by atmospheric-pressure plasma-enhanced chemical vapor deposition
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Achieving uniform layer deposition by atmospheric-pressure plasma-enhanced chemical vapor deposition

Lee, Jae-Ok ; Kang, Woo Seok ; Hur, Min ; Lee, Jin Young ; Song, Young-Hoon

Thin solid films, 2015-12, Vol.597, p.7-13 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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9
Activation energy of an asymmetrical, radio frequency discharge with methane
Activation energy of an asymmetrical, radio frequency discharge with methane
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Activation energy of an asymmetrical, radio frequency discharge with methane

Hegemann, D. ; Schütz, U.

Thin solid films, 2005-11, Vol.491 (1), p.96-103 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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10
Active layer analysis of interpenetrating heterojunction organic thin-film solar cells by X-ray photoelectron spectroscopy
Active layer analysis of interpenetrating heterojunction organic thin-film solar cells by X-ray photoelectron spectroscopy
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Active layer analysis of interpenetrating heterojunction organic thin-film solar cells by X-ray photoelectron spectroscopy

Hori, Tetsuro ; Semba, Akitoshi ; Lee, Sunghwan ; Kubo, Hitoshi ; Fujii, Akihiko ; Ozaki, Masanori

Thin solid films, 2014-03, Vol.554, p.222-225 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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