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Thermal Problems of the CW Injection Laser
Thermal Problems of the CW Injection Laser
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Thermal Problems of the CW Injection Laser

Keyes, R. W.

IBM journal of research and development, 1971-09, Vol.15 (5), p.401-404 [Periódico revisado por pares]

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A Spacecraft Computer Repairable via Command
A Spacecraft Computer Repairable via Command
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A Spacecraft Computer Repairable via Command

Fimmel, Richard O. ; Baker, Thpmas E.

IEEE transactions on aerospace and electronic systems, 1971-09, Vol.AES-7 (5), p.974-981 [Periódico revisado por pares]

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Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers
Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers
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Reliability Modeling for Fault-Tolerant Computers

Bouricius, W.G. ; Carter, W.C. ; Jessep, D.C. ; Schneider, P.R. ; Wadia, A.B.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1306-1311 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach
Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach
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Computer Diagnosis Using the Blocking Gate Approach

Ramamoorthy, C.V. ; Mayeda, W.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1294-1299 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code
Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code
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Realization of Fail-Safe Sequential Machines by Using a k-out-of-n Code

Tohma, Y. ; Ohyama, Y. ; Sakai, R.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1270-1275 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Arithmetic Error Codes: Cost and Effectiveness Studies for Application in Digital System Design
Arithmetic Error Codes: Cost and Effectiveness Studies for Application in Digital System Design
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Arithmetic Error Codes: Cost and Effectiveness Studies for Application in Digital System Design

Avizienis, A.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1322-1331 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks
Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks
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Structural Factors in the Fault Diagnosis of Combinational Networks

Russell, J.D. ; Kime, C.R.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1276-1285 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Analysis of Parallel Systems
Analysis of Parallel Systems
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Analysis of Parallel Systems

Bredt, T.H.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1403-1407 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Soviet Progress in the Design of Fault-Tolerant Digital Machines
Soviet Progress in the Design of Fault-Tolerant Digital Machines
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Soviet Progress in the Design of Fault-Tolerant Digital Machines

Short, R.A. ; Goldberg, J.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1337-1352 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
On the Design of Minimum Length Fault Tests for Combinational Circuits
On the Design of Minimum Length Fault Tests for Combinational Circuits
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On the Design of Minimum Length Fault Tests for Combinational Circuits

Bearnson, L.W. ; Carroll, C.C.

IEEE transactions on computers, 1971-11, Vol.C-20 (11), p.1353-1356 [Periódico revisado por pares]

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