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0/1 Knapsack on Hardware: A Complete Solution
0/1 Knapsack on Hardware: A Complete Solution
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0/1 Knapsack on Hardware: A Complete Solution

Nibbelink, K. ; Rajopadhye, S. ; McConnell, R.

2007 IEEE International Conf. on Application-specific Systems, Architectures and Processors (ASAP), 2007, p.160-167

IEEE

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2
0:1-0:59! Here they are: the 59 hottest cars, trucks, and concepts headed your way in 2006 and beyond. And if you can't find anything you want to beg, borrow, or steal the keys for on the next 50 pages, check if you still have a pulse.(Buyers Guide)
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Motor trend, 2006-03, Vol.58 (3), p.39

Motor Trend Group

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3
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Motor trend, 2006-03, Vol.58 (3), p.80

Motor Trend Group

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4
0.1 μm RFCMOS on high resistivity substrates for system on chip (SOC) applications
0.1 μm RFCMOS on high resistivity substrates for system on chip (SOC) applications
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0.1 μm RFCMOS on high resistivity substrates for system on chip (SOC) applications

YANG, J.-Y ; BENAISSA, K ; ASHBURN, S ; MADHANI, P ; BLYTHE, T ; SHICHIJO, H ; CRENSHAW, D ; WILLIAMS, B ; SRIDHAR, S ; AI, J ; BOSELLI, G ; ZHAO, S ; TANG, S.-P ; MAHALINGAM, N

Piscataway NJ: IEEE 2002

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5
0.13-[micro]m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability
0.13-[micro]m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability
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0.13-[micro]m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability

Kikukawa, H ; Tomishima, S ; Tsuji, T ; Kawasaki, T ; Sakamoto, S ; Ishikawa, M ; Abe, W ; Tanizaki, H ; Kato, H ; Uchikoba, T ; Inokuchi, T ; Senoh, M ; Fukushima, Y ; Nirro, M ; Maruta, M ; Shibayama, A ; Ooishi, T ; Takahashi, K ; Hidaka, H

IEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932 [Periódico revisado por pares]

New York: The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)

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6
0.13-mu m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficientredundancy and enhanced testability
0.13-mu m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficientredundancy and enhanced testability
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.13-mu m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficientredundancy and enhanced testability

Kikukawa, H ; Tomishima, S ; Tsuji, T ; Kawasaki, T ; Sakamoto, S ; Ishikawa, M ; Abe, W ; Tanizaki, H ; Kato, H ; Uchikoba, T ; Inokuchi, T ; Senoh, M ; Fukushima, Y ; Nirro, M ; Maruta, M ; Shibayama, A ; Ooishi, T ; Takahashi, K ; Hidaka, H

IEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932-940 [Periódico revisado por pares]

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7
0.13-/spl mu/m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability
0.13-/spl mu/m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.13-/spl mu/m 32-Mb/64-Mb embedded DRAM core with high efficient redundancy and enhanced testability

Kikukawa, H. ; Tomishima, S. ; Tsuji, T. ; Kawasaki, T. ; Sakamoto, S. ; Ishikawa, M. ; Abe, W. ; Tanizaki, H. ; Kato, H. ; Uchikoba, T. ; Inokuchi, T. ; Senoh, M. ; Fukushima, Y. ; Nirro, M. ; Maruta, M. ; Shibayama, A. ; Ooishi, T. ; Takahashi, K. ; Hidaka, H.

IEEE journal of solid-state circuits, 2002-07, Vol.37 (7), p.932-940 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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8
1/1, Architektur und Design neue Synergien = Architecture and design : new synergies
1/1, Architektur und Design neue Synergien = Architecture and design : new synergies
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1/1, Architektur und Design neue Synergien = Architecture and design : new synergies

Robert Wilson 1941-; Ingenhoven Overdiek und Partner; KMS Team

Basel Birkhäuser Boston c2001

Localização: IAU - Inst. Arquitetura e Urbanismo    (720 O58 e.2 )(Acessar)

9
10 x 10
10 x 10
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

10 x 10

Vivian Constantinopoulos; Iona Baird

London Phaidon 2000

Localização: FAU - Fac. Arquitetura e Urbanismo    (724.9 T25 e.2 )(Acessar)

10
101 things I learned in architecture school
101 things I learned in architecture school
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

101 things I learned in architecture school

Matthew Frederick

Cambridge, Mass. MIT Press c2007

Localização: FAU - Fac. Arquitetura e Urbanismo    (720.7 F872o )(Acessar)

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