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1	Material Type: Artigo		1 MHz quartz length extension resonator as a probe for scanning near-field acoustic microscopy Michels, A. ; Meinen, F. ; Murdfield, T. ; Göhde, W. ; Fischer, U.C. ; Beckmann, E. ; Fuchs, H. Thin solid films, 1995-08, Vol.264 (2), p.172-175 [Periódico revisado por pares] Lausanne: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		1,3-Diphosphacyclobutane-2,4-diyl-2-ylidenide: A Unique Carbene and Its Trimethylalane Complex Niecke, Edgar ; Fuchs, André ; Nieger, Martin ; Schmidt, Olaf ; Schoeller, Wolfgang W. Angewandte Chemie (International ed.), 1999-10, Vol.38 (20), p.3031-3034 [Periódico revisado por pares] Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbH Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		1,3-Diphosphetane-2,4-diyles--Cryptocarbenes? Fuchs, Andre ; Nieger, Martin ; Niecke, Edgar ; Nyulaszi, Laszlo ; Schmidt, Olaf ; Schoeller, Wolfgang ; Sebastian, Manuel Phosphorus, sulfur, and silicon and the related elements, 2002-06, Vol.177 (6-7), p.1605-1608 [Periódico revisado por pares] Taylor & Francis Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		1,3-Diphospholene-4-ylidene Chromium (Tungsten) Pentacarbonyl Complexes Formed by CO Insertion into the Ring of a 1,3-Diphosphacyclobutane-2,4-diyl-2-ide-Complexes of a Phosphanyl Carbene or a Phosphonium Ylide? Fuchs, André ; Gudat, Dietrich ; Nieger, Martin ; Schmidt, Olaf ; Sebastian, Manuel ; Nyulaszi, Laszlo ; Niecke, Edgar Chemistry : a European journal, 2002-05, Vol.8 (9), p.2188-2196 [Periódico revisado por pares] Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbH Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		150-nm tuning range in a grating-coupled external cavity quantum-dot laser Li, H. ; Liu, G.T. ; Varangis, P.M. ; Newell, T.C. ; Stintz, A. ; Fuchs, B. ; Malloy, K.J. ; Lester, L.F. IEEE photonics technology letters, 2000-07, Vol.12 (7), p.759-761 New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		16 T trapped fields in modified YBaCuO: materials aspects Krabbes, G ; Fuchs, G ; Verges, P ; Diko, P ; Stöver, G ; Gruss, S Physica. C, Superconductivity, 2002-10, Vol.378, p.636-640 [Periódico revisado por pares] Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Ata de Congresso		183 nm tuning range in a grating-coupled external-cavity quantum dot laser Varangis, P.M. ; Li, H. ; Liu, G.T. ; Newell, T.C. ; Stintz, A. ; Fuchs, B. ; Malloy, K.J. ; Lester, L.F. Conference Digest. 2000 IEEE 17th International Semiconductor Laser Conference. (Cat. No.00CH37092), 2000, p.137-138 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		1st Anniversary for Advanced Optical Materials Gregory, Peter ; Fuchs, Guido ; Rittweger, Eva ; Eberhardt, Anja Advanced optical materials, 2014-01, Vol.2 (1), p.8-9 Weinheim: Wiley Subscription Services, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		2-COLOR GAAS/(ALGA)AS QUANTUM-WELL INFRARED DETECTOR WITH VOLTAGE-TUNABLE SPECTRAL SENSITIVITY AT 3-5 AND 8-12 MU-M KHENG, K ; RAMSTEINER, M ; SCHNEIDER, H ; RALSTON, JD ; FUCHS, F ; KOIDL, P Applied physics letters, 1992-08, Vol.61 (6), p.666-668 [Periódico revisado por pares] WOODBURY: Amer Inst Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		256 x 256 focal plane array midwavelength infrared camera based on InAs/GaSb short-period superlattices Walther, M ; Rehm, R ; Fuchs, F ; Schmitz, J ; Fleissner, J ; Cabanski, W ; Eich, D ; Finck, M ; Rode, W ; Wendler, J ; Wollrab, R ; Ziegler, J Journal of electronic materials, 2005-06, Vol.34 (6), p.722-725 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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