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Automated Header Compression in Constrained Networks
Automated Header Compression in Constrained Networks
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Automated Header Compression in Constrained Networks

Banerjee, Soumya ; Barthel, Dominique ; Lampin, Quentin ; Dumay, Marion ; Coutant, Stéphane ; Adjih, Cédric ; Muhlethaler, Paul ; Watteyne, Thomas

IEEE communications standards magazine, 2024-10

Institute of Electrical and Electronics Engineers

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2
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions
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Efficient SoC Security Monitoring: Quality Attributes and Potential Solutions

Rahman, Mridha Md Mashahedur ; Tarek, Shams ; Azar, Kimia Zamiri ; Tehranipoor, Mark M. ; Farahmandi, Farimah

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.26-34

IEEE

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Product Health Insights Using Telemetry
Product Health Insights Using Telemetry
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Product Health Insights Using Telemetry

Su, Fei ; Kwasnick, Robert ; Holm, John ; Penner, William ; Gartler, Hermann ; Boelter, Josh ; Zhou, Yufei ; Arbab, Bijan ; Rothberg, Michael

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.56-64

Piscataway: IEEE

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4
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior
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SAFER: Safety Assurances for Emergent Behavior

de Melo, Caio Batista ; Ashrafiamiri, Marzieh ; Seo, Minjun ; Kurdahi, Fadi ; Dutt, Nikil

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.17-25

Piscataway: IEEE

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5
Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
Workload-Aware Periodic Interconnect BIST
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Workload-Aware Periodic Interconnect BIST

Sadeghi-Kohan, Somayeh ; Hellebrand, Sybille ; Wunderlich, Hans-Joachim

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.50-55

Piscataway: IEEE

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6
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management
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The Future of Design for Test and Silicon Lifecycle Management

Rajski, Janusz ; Chickermane, Vivek ; Cote, Jean-Francois ; Eggersglus, Stephan ; Mukherjee, Nilanjan ; Tyszer, Jerzy

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.35-49

IEEE

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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution
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Fuzzing for Automated SoC Security Verification: Challenges and Solution

Hossain, Muhammad Monir ; Azar, Kimia Zamiri ; Rahman, Fahim ; Farahmandi, Farimah ; Tehranipoor, Mark M.

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.7-16

IEEE

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8
Interview With Janusz Rajski
Interview With Janusz Rajski
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Interview With Janusz Rajski

Nicolici, Nicola

IEEE design and test, 2024-08, Vol.41 (4), p.65-69

IEEE

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Time-Constrained Actor-Critic Reinforcement Learning for Concurrent Order Dispatch in On-Demand Delivery
Time-Constrained Actor-Critic Reinforcement Learning for Concurrent Order Dispatch in On-Demand Delivery
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Time-Constrained Actor-Critic Reinforcement Learning for Concurrent Order Dispatch in On-Demand Delivery

Wang, Shuai ; Guo, Baoshen ; Ding, Yi ; Wang, Guang ; He, Suining ; Zhang, Desheng ; He, Tian

IEEE transactions on mobile computing, 2024-08, Vol.23 (8), p.8175-8192 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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10
Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks
Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks
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Extending Beacon Lifetime by Predicting User Occupancy Using Deep Neural Networks

Jeon, Kang Eun ; She, James

IEEE transactions on mobile computing, 2024-08, Vol.23 (8), p.8386-8397 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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  1. Revistas revisadas por pares (10.295)

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  2. 1968Até1981  (1.450)
  3. 1982Até1995  (8.610)
  4. 1996Até2010  (31.531)
  5. Após 2010  (26.710)
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