skip to main content
Idioma:
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Refinado por: assunto: Engineering remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Noise annoyance susceptibility
Noise annoyance susceptibility
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Noise annoyance susceptibility

Moreira, Naomi M. ; Bryan, M.E.

Journal of sound and vibration, 1972-01, Vol.21 (4), p.449-462 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Economics of fermentation processes for SCP production from agricultural wastes
Economics of fermentation processes for SCP production from agricultural wastes
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Economics of fermentation processes for SCP production from agricultural wastes

Mooyoung, M. ; Moreira, A. R. ; Daugulis, A. J.

Canadian journal of chemical engineering, 1979-12, Vol.57 (6), p.741-749 [Periódico revisado por pares]

Hoboken: Wiley Subscription Services, Inc., A Wiley Company

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
Benefit Analysis of Concurrent Redundancy Techniques
Benefit Analysis of Concurrent Redundancy Techniques
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Benefit Analysis of Concurrent Redundancy Techniques

de Souza, J. Moreira ; Landrault, C.

IEEE transactions on reliability, 1981-01, Vol.R-30 (1), p.67-70 [Periódico revisado por pares]

IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Salinity and weathering rate of rocks in a semi-arid region
Salinity and weathering rate of rocks in a semi-arid region
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Salinity and weathering rate of rocks in a semi-arid region

Moreira-Nordemann, L.M

Journal of hydrology (Amsterdam), 1984-03, Vol.71 (1), p.131-147 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Ethanol fuel: a use of biomass energy in Brazil
Ethanol fuel: a use of biomass energy in Brazil
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Ethanol fuel: a use of biomass energy in Brazil

Goldemberg, J ; Moreira, J.R ; Dos Santos, P.U.M ; Serra, G.E. (Alameda Ministro Rocha, Azevedo, Sao Paulo (Brazil))

Ambio, 1985, Vol.14 (4-5), p.293-297 [Periódico revisado por pares]

Royal Swedish Academy of Sciences

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
A spectroscopic study in the MM region of poly(vinylidene fluoride) and copolymers
A spectroscopic study in the MM region of poly(vinylidene fluoride) and copolymers
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A spectroscopic study in the MM region of poly(vinylidene fluoride) and copolymers

LATOUR, M ; MOREIRA, R. L

IEEE transactions on electrical insulation, 1986-06, Vol.E1-21 (3), p.525-528

New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Software-reliability evaluation of the TROPICO-R switching system
Software-reliability evaluation of the TROPICO-R switching system
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Software-reliability evaluation of the TROPICO-R switching system

Bastos Martini, M.R.d. ; Kanoun, K. ; Moreira de Souza, J.

IEEE transactions on reliability, 1990-08, Vol.39 (3), p.369-379 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
MBE growth and characterization of MODFET heterostructures using pseudomorphic InGaAs or InAs/GaAs superlattice channels
MBE growth and characterization of MODFET heterostructures using pseudomorphic InGaAs or InAs/GaAs superlattice channels
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

MBE growth and characterization of MODFET heterostructures using pseudomorphic InGaAs or InAs/GaAs superlattice channels

Baeta Moreira, M.V. ; Py, M.A. ; Ilegems, M.

Microelectronic engineering, 1991, Vol.15 (1), p.573-576 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Extraction of FET parameters at low drain bias by taking into account the dependence of mobility on 2D electron gas concentration
Extraction of FET parameters at low drain bias by taking into account the dependence of mobility on 2D electron gas concentration
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Extraction of FET parameters at low drain bias by taking into account the dependence of mobility on 2D electron gas concentration

Py, M.A. ; Haddab, Y. ; Shi, Z.M. ; Bühlmann, H.-J. ; Baeta Moreira, M.V. ; Ilegems, M.

ESSDERC '91: 21st European Solid State Device Research Conference, 1991, Vol.15 (1), p.577-580 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Reliability assessment of computer systems design
Reliability assessment of computer systems design
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Reliability assessment of computer systems design

Bastos Martini, M.R. ; Moreira de Souza, J.

Microelectronics and reliability, 1991, Vol.31 (2), p.237-244 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (831)
  2. Anais de Congresso  (149)
  3. magazinearticle  (11)
  4. Book Chapters  (7)
  5. Livros  (4)
  6. Produções Acadêmicas  (1)
  7. Mais opções open sub menu

Autor/Criador 

  1. Kenski, V  (1)
  2. Gozzi, M  (1)
  3. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1991  (8)
  2. 1991Até1998  (47)
  3. 1999Até2006  (123)
  4. 2007Até2015  (388)
  5. Após 2015  (442)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (1.001)
  2. Japonês  (86)
  3. Português  (32)
  4. Espanhol  (7)
  5. Catalão  (1)
  6. Alemão  (1)
  7. Mais opções open sub menu

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Kenski, V
  2. Gozzi, M

Neste Assunto:

  1. Engineering
  2. Engineering
  3. Science & Technology
  4. Technology
  5. Engineering, Electrical & Electronic

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.