A CVD diamond beam telescope for charged particle tracking

Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, R. ; de Boer, W. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Dulinski, W. ; Doroshenko, J. ; Doucet, M. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fischer, P. ; Fizzotti, F. ; Kania, D. ; Gan, K.K. ; Grigoriev, E. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Keil, M. ; Knopfle, K.T. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Meuser, S. ; Logiudice, A. ; mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Menichelli, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Noomen, J. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Perera, L. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Weilhammer, P. ; Wermes, N. ; Wetstein, M. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M.

New York: IEEE

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A GLOBAL DETERMINATION OF ALPHA(S)(M(Z)0) AT LEP

ANDERSON, KJ ; AZUELOS, G ; BAHAN, GA ; BANKS, J ; BARKER, GJ ; BEHNKE, T ; BELL, KW ; BERLICH, P ; BINDER, U ; BLOODWORTH, IJ ; BREUKER, H ; CAPILUPPI, P ; CONBOY, JE ; COUCH, M ; CUFFIANI, M ; DIECKMANN, A ; DIXIT, MS ; DUMAS, DJP ; ELCOMBE, PA ; ESTABROOKS, PG ; ETZION, E ; EVANS, HG ; FINCKEKEELER, M ; GANEL, O ; GARY, JW ; GASCON, J ; GENSLER, SW ; GIACOMELLI, G ; GIBSON, WR ; GRANDI, C ; HAGEMANN, J ; HARGROVE, CK ; HARRISON, PF ; HART, J ; HAUSCHILD, M ; HILL, JC ; HINSHAW, DA ; HOBBS, JD ; HOU ; HOWARTH, CP ; HUMBERT, R ; IGOKEMENES, P ; JAWAHERY, A ; JOBES, M ; JONES, RWL ; JOVANOVIC, P ; KENNEDY, BW ; KLEM, DE ; KOBAYASHI, T ; KOPKE, L ; KOWALEWSKI, R ; LAYTER, JG ; LOEBINGER, FK ; LORAH, JM ; LOSTY, MJ ; LUDWIG, J ; MASHIMO, T ; MCKENNA, J ; MEIJERS, F ; MENSZNER, D ; MIR, R ; MONTANARI, A ; MOSS, MW ; MOUTHUY, T ; ONEALE, SW ; ONEILL, BP ; PANSART, JP ; PATRICK, GN ; PILCHER, JE ; POFFENBERGER, P ; PRITCHARD, TW ; QUAST, G ; REES, DL ; ROBINS, SA ; ROLLNIK, A ; ROSSBERG, S ; ROSSI, AM ; ROUTENBERG, P ; SASAKI, M ; VONDERSCHMITT, H ; SCHWIENING, J ; SINGH, P ; SIROLI, GP ; SMITH, AM ; SMITH, TJ ; SNOW, GA ; STEPHENS, K ; STROHMER, R ; TARAS, P ; TEIXEIRADIAS, P ; TRANSTROMER, G ; TSUKAMOTO, T ; VANDENPLAS, D ; WAGNER, A ; WAGNER, DL ; WATSON, AT ; WATSON, NK ; WERMES, N ; WINTERER, VH ; YAARI, R

NEW YORK: Springer Nature

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Characterization of a modular broad beam ion source

Zeuner, Michael ; Neumann, Horst ; Scholze, Frank ; Flamm, Dieter ; Tartz, Michael ; Bigl, Frieder

Bristol: IOP Publishing

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Charm, beauty and charmonium production at HERA-B

Zoccoli, A

Heidelberg: Springer Nature B.V

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CVD diamond pixel detectors for LHC experiments

Wedenig, R. ; Adam, W. ; Bauer, C. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Deneuville, A. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fizzotti, F. ; Foulon, F. ; Friedl, M. ; Gan, K.K. ; Gheeraert, E. ; Grigoriev, E. ; Hallewell, G. ; Hall-Wilton, R. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kania, D. ; Kaplon, J. ; Karl, C. ; Kass, R. ; Knöpfle, K.T. ; Krammer, M. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; Manfredi, P.F. ; Manfredotti, C. ; Marshall, R.D. ; Meier, D. ; Mishina, M. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Palmieri, V.G. ; Pernicka, M. ; Peitz, A. ; Pirollo, S. ; Polesello, P. ; Pretzl, K. ; Procario, M. ; Re, V. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Roff, D. ; Rudge, A. ; Runolfsson, O. ; Russ, J. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Speziali, V. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Tapper, R.J. ; Tesarek, R. ; Trawick, M. ; Trischuk, W. ; Vittone, E. ; Wagner, A. ; Walsh, A.M. ; Weilhammer, P. ; White, C. ; Zeuner, W. ; Ziock, H. ; Zoeller, M. ; Blanquart, L. ; Breugnion, P. ; Charles, E. ; Ciocio, A. ; Clemens, J.C. ; Dao, K. ; Einsweiler, K. ; Fasching, D. ; Fischer, P. ; Joshi, A. ; Keil, M. ; Klasen, V. ; Kleinfelder, S. ; Laugier, D. ; Meuser, S. ; Milgrome, O. ; Mouthuy, T. ; Richardson, J. ; Sinervo, P. ; Treis, J. ; Wermes, N.

Elsevier B.V

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CVD diamond sensors for charged particle detection

Krammer, M. ; Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; Bertuccio, G. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Deneuville, A. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fizzotti, F. ; Foulon, F. ; Friedl, M. ; Gan, K.K. ; Gheeraert, E. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kania, D. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Koeth, T. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; MacLynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Peitz, A. ; Perera, L. ; Pirollo, S. ; Procario, M. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rousseau, L. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Tapper, R.J. ; Tesarek, R. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Walsh, A.M. ; Wedenig, R. ; Weilhammer, P. ; Wetstein, M. ; White, C. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M.

Amsterdam: Elsevier B.V

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Deposition of microcrystalline intrinsic silicon by the Electrical Asymmetry Effect technique

Hrunski, D. ; Mootz, F. ; Zeuner, A. ; Janssen, A. ; Rost, H. ; Beckmann, R. ; Binder, S. ; Schüngel, E. ; Mohr, S. ; Luggenhölscher, D. ; Czarnetzki, U. ; Grabosch, G.

Elsevier Ltd

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Design of ion energy distributions by a broad beam ion source

Zeuner, Michael ; Meichsner, Jürgen ; Neumann, Horst ; Scholze, Frank ; Bigl, Frieder

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Determination of the average lifetime of bottom hadrons

Althoff, M. ; Braunschweig, W. ; Kirschfink, F.J. ; Martyn, H.-U. ; Rosskamp, P. ; Schmitz, D. ; Siebke, H. ; Wallraff, W. ; Eisenmann, J. ; Fischer, H.M. ; Hartmann, H. ; Jocksch, A. ; Knop, G. ; Kolanoski, H. ; Kück, H. ; Mertens, V. ; Wedemeyer, R. ; Foster, B. ; Eskreys, A. ; Fohrmann, R. ; Gather, K. ; Hildebrandt, M. ; Hultschig, H. ; Joos, P. ; Kötz, U. ; Kowalski, H. ; Ladage, A. ; Löhr, B. ; Lüke, D. ; Mättig, P. ; Notz, D. ; Nowak, R.J. ; Ronat, E. ; Rushton, M. ; Schütte, W. ; Trines, D. ; Tymieniecka, T. ; Yekutieli, G. ; Zeuner, W. ; Hilger, E. ; Kracht, T. ; Krasemann, H.L. ; Leu, P. ; Lohrmann, E. ; Pandoulas, D. ; Poelz, G. ; Pösnecker, K.U. ; Beuselinck, R. ; Binnie, D.M. ; Campbell, A.J. ; Dornan, P. ; Garbutt, D.A. ; Jenkins, C. ; Jones, T.D. ; Jones, W.G. ; McCardle, J. ; Sedgbeer, J.K. ; Thomas, J. ; Wan Abdullah, W.A.T. ; Bell, K.W. ; Bowler, M.G. ; Bull, P. ; Clarke, P.E.L. ; Dauncey, P. ; Devenish, R. ; Grossmann, P. ; Hawkes, C.M. ; Lloyd, S.L. ; Mellor, D. ; Youngman, C. ; Forden, G.E. ; Hart, J.C. ; Harvey, J. ; Hasell, D.K. ; Saxon, D.H. ; Barreiro, F. ; Brandt, S. ; Dittmar, M. ; Holder, M. ; Kreutz, G. ; Neumann, B. ; Duchovni, E. ; Eisenberg, Y. ; Karshon, U. ; Mikenberg, G. ; Mir, R. ; Revel, D. ; Shapira, A. ; Baranko, G. ; Caldwell, A. ; Cherney, M. ; Izen, J.M. ; Mermikides, M. ; Ritz, S. ; Strom, D. ; Takashima, M. ; Venkataramania, H. ; Wicklund, E. ; Wu, Sau Lan ; Zobernig, G.

Elsevier B.V

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Diamond Pixel Detectors

Adam, W. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; Bertuccio, G. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Deneuville, A. ; Doroshenko, J. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fizzotti, F. ; Foster, J. ; Foulon, F. ; Friedl, M. ; Gan, K.K. ; Gheeraert, E. ; Gobbi, B. ; Grim, G.P. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kania, D. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Lander, R. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Oh, A. ; Pan, L.S. ; Pernicka, M. ; Perera, L. ; Pirollo, S. ; Plano, R. ; Procario, M. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rott, C. ; Rousseau, L. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Tapper, R.J. ; Tesarek, R. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Wedenig, R. ; Weilhammer, P. ; White, C. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M.

Elsevier B.V

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