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(0 0 1) Textured CoPt/Ag films and nanocomposites: the effect of Ag underlayers
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(0 0 1) Textured CoPt/Ag films and nanocomposites: the effect of Ag underlayers

Manios, E. ; Karanasos, V. ; Niarchos, D. ; Panagiotopoulos, I.

Journal of magnetism and magnetic materials, 2004-05, Vol.272, p.2169-2170 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method
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(0 0 2)-oriented growth and morphologies of ZnO thin films prepared by sol-gel method

Guo, Dongyun ; Ju, Yang ; Fu, Chengju ; Huang, Zhixiong ; Zhang, Lianmeng

Materials science--Poland, 2016-09, Vol.34 (3), p.555-563 [Periódico revisado por pares]

De Gruyter

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3
[0 1 0] dislocations in the complex metallic alloy ξ ′-Al–Pd–Mn
[0 1 0] dislocations in the complex metallic alloy ξ ′-Al–Pd–Mn
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[0 1 0] dislocations in the complex metallic alloy ξ ′-Al–Pd–Mn

Feuerbacher, M ; Caillard, D

Acta materialia, 2004-03, Vol.52 (5), p.1297-1304 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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4
[0001] Compression response at room temperature of single-crystal magnesium
[0001] Compression response at room temperature of single-crystal magnesium
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[0001] Compression response at room temperature of single-crystal magnesium

Syed, B. ; Geng, J. ; Mishra, R.K. ; Kumar, K.S.

Scripta materialia, 2012-10, Vol.67 (7-8), p.700-703 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
0.05-3 GHz VNA characterization of soil dielectric properties based on the multiline TRL calibration
0.05-3 GHz VNA characterization of soil dielectric properties based on the multiline TRL calibration
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0.05-3 GHz VNA characterization of soil dielectric properties based on the multiline TRL calibration

Lewandowski, Arkadiusz ; Szyp owska, Agnieszka ; Kafarski, Marcin ; Wilczek, Andrzej ; Barmuta, Pawe ; Skierucha, Wojciech

Measurement science & technology, 2017-02, Vol.28 (2), p.24007 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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6
0.10 μm TiSi2 technology utilizing nitrogen diffusion controlled RTA
0.10 μm TiSi2 technology utilizing nitrogen diffusion controlled RTA
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0.10 μm TiSi2 technology utilizing nitrogen diffusion controlled RTA

MATSUBARA, Y ; SAKAI, T ; ISHIGAMI, T ; ANDO, K ; HORIUCHI, T

Thin solid films, 1995-12, Vol.270 (1-2), p.537-543 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier Science

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Citações Citado por
7
0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system
0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system
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0.12 micron logic process using a 248 nm step-and-scan system

BAKER, Dan ; ZHENG, Tammy ; TAKEMOTO, Cliff ; SETHI, Satyendra ; GABRIEL, Calvin ; SCOTT, Greg

SPIE proceedings series, 2000, p.294-304

Bellingham WA: SPIE

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8
0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications
0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications
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0.15 μm gate length MHEMT technology for 77GHz automotive radar applications

JIN HEE LEE ; HYUNG SUP YOON ; JAE YEOB SHIM ; JU YEON HONG ; DONG MIN KANG ; HAE CHEON KIM ; KYUNG IK CHO ; KYUNG HO LEE ; BOO WOO KIM

Piscataway NJ: IEEE 2004

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9
0.16BaFeO3-0.84MgFe2O4 hexa-spinel composited ferrites with enhanced magneto-dielectric properties for miniaturized high-frequency antennas
0.16BaFeO3-0.84MgFe2O4 hexa-spinel composited ferrites with enhanced magneto-dielectric properties for miniaturized high-frequency antennas
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0.16BaFeO3-0.84MgFe2O4 hexa-spinel composited ferrites with enhanced magneto-dielectric properties for miniaturized high-frequency antennas

Gan, Gongwen ; Yin, Yaqin ; Cheng, Yue ; Luo, Jie ; Zheng, Zongliang ; Zhang, Xi ; Xie, Fei ; Li, Ziming ; Dian, Liwen ; Zou, Gaojie ; Qiu, Feifei ; Zhu, Zhongyin ; Gou, Guoqing

Materials today advances, 2024-06, Vol.22, p.100505, Article 100505 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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10
0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask
0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.18-μm optical lithography performances using an alternating DUV phase-shift mask

Trouiller, Yorick ; Buffet, N ; Mourier, Thierry ; Schiavone, Patrick ; Quere, Yves

SPIE proceedings series, 1998, Vol.3334, p.25-35

Bellingham WA: SPIE

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