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Henkels, W.H. ; Wen, D.-S. ; Mohler, R.L. ; Franch, R.L. ; Bucelot, T.J. ; Long, C.W. ; Bracchitta, J.A. ; Cote, W.J. ; Bronner, G.B. ; Taur, Y. ; Dennard, R.H.

IEEE journal of solid-state circuits, 1991-11, Vol.26 (11), p.1519-1529 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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