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Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware
Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware
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Test Schedules for VLSI Circuits Having Built-In Test Hardware

Abadir, M S ; Breuer, M A

IEEE transactions on computers, 1986-04, Vol.C-35 (4), p.361-367 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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2
Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams
Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams
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Functional Test Generation for Digital Circuits Described Using Binary Decision Diagrams

ABADIR, M. S ; REGHBATI, H. K

IEEE transactions on computers, 1986-04, Vol.C-35 (4), p.375-379 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Hardware compressed main memory: operating system support and performance evaluation
Hardware compressed main memory: operating system support and performance evaluation
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Hardware compressed main memory: operating system support and performance evaluation

Abali, B. ; Xiaowei Shen ; Franke, H. ; Poff, D.E. ; Smith, T.B.

IEEE transactions on computers, 2001-11, Vol.50 (11), p.1219-1233 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Optimizing the Performance of a Drum-Like Storage
Optimizing the Performance of a Drum-Like Storage
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Optimizing the Performance of a Drum-Like Storage

Abate, J. ; Dubner, H.

IEEE transactions on computers, 1969-11, Vol.C-18 (11), p.992-997 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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5
Data Replication Approach with Consistency Guarantee for Data Grid
Data Replication Approach with Consistency Guarantee for Data Grid
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Data Replication Approach with Consistency Guarantee for Data Grid

Abawajy, Jemal H. ; Deris, Mustafa Mat

IEEE transactions on computers, 2014-12, Vol.63 (12), p.2975-2987 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
An Efficient Multiple Cell Upsets Tolerant Content-Addressable Memory
An Efficient Multiple Cell Upsets Tolerant Content-Addressable Memory
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An Efficient Multiple Cell Upsets Tolerant Content-Addressable Memory

Abbas, Syed Mohsin ; Lee, Soonyoung ; Baeg, Sanghyeon ; Park, Sungju

IEEE transactions on computers, 2014-08, Vol.63 (8), p.2094-2098 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
A Symbolic Simulator for Microprogram Development
A Symbolic Simulator for Microprogram Development
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A Symbolic Simulator for Microprogram Development

ABBOTT, C

IEEE transactions on computers, 1983-08, Vol.C-32 (8), p.770-774 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Heuristic Synthesis of Microprogrammed Computer Architecture
Heuristic Synthesis of Microprogrammed Computer Architecture
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Heuristic Synthesis of Microprogrammed Computer Architecture

Abd-Alla, A.M. ; Karlgaard, D.C.

IEEE transactions on computers, 1974-08, Vol.C-23 (8), p.802-807 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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9
Synthesis of Multivalued Multithreshold Functions for CCD Implementation
Synthesis of Multivalued Multithreshold Functions for CCD Implementation
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Synthesis of Multivalued Multithreshold Functions for CCD Implementation

ABD-EL BARR, M. H ; ZAKY, S. G ; VRANESIC, Z. G

IEEE transactions on computers, 1986-02, Vol.C-35 (2), p.124-133 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Cost reduction in the CCD realization of MVMT functions
Cost reduction in the CCD realization of MVMT functions
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Cost reduction in the CCD realization of MVMT functions

Abd-El-Barr, M.H. ; Vranesic, Z.G.

IEEE transactions on computers, 1990-05, Vol.39 (5), p.702-706 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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