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Bow-tie treeing effect in cross-linked polyethylene insulated cables
Bow-tie treeing effect in cross-linked polyethylene insulated cables
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Bow-tie treeing effect in cross-linked polyethylene insulated cables

Fukuda, Teruo ; Nakano, Keizo ; Tanabe, Teruyoshi ; Sudo, Akihisa ; Kuhara, Tadaaki

Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena - Annual Report 1974, 1974, p.218-228

IEEE

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2
Path Delay Analysis for Hierarchical Building Block Layout System
Path Delay Analysis for Hierarchical Building Block Layout System
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Path Delay Analysis for Hierarchical Building Block Layout System

Tamura, E. ; Ogawa, K. ; Nakano, T.

20th Design Automation Conference Proceedings, 1983, p.403-410

IEEE

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3
New Dynamic RAM Cell Combined with Hi–C Structure
New Dynamic RAM Cell Combined with Hi–C Structure
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

New Dynamic RAM Cell Combined with Hi–C Structure

Ozaki, Hideyuki ; Shimotori, Kazuhiro ; Fujishima, Kazuyasu ; Satoh, Shin-ichi ; Nakano, Takao

Japanese Journal of Applied Physics, 1983, Vol.22 (S1), p.55 [Periódico revisado por pares]

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4
Path delay analysis for hierarchical building block layout system
Path delay analysis for hierarchical building block layout system
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Path delay analysis for hierarchical building block layout system

Tamura, Eiji ; Ogawa, Kimihiro ; Nakano, Toshio

Proceedings of the 20th Design Automation Conference, 1983, p.403-410

Piscataway, NJ, USA: IEEE Press

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5
Long term evaluation of self-bonding magnet wire for hermetic motor system
Long term evaluation of self-bonding magnet wire for hermetic motor system
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Long term evaluation of self-bonding magnet wire for hermetic motor system

Ito, K. ; Ueda, K. ; Nakano, K. ; Chabata, S. ; Iizuka, H. ; Miyako, H.

1983 EIC 6th Electrical/Electronical Insulation Conference, 1983, p.309-314

IEEE

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6
Cross-program simulator for any microprocessors
Cross-program simulator for any microprocessors
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Cross-program simulator for any microprocessors

Miyagawa, A. ; Itajima, T. ; Takagi, T. ; Nakano, S.

1984 IEEE First International Conference on Data Engineering, 1984, p.576-583

IEEE

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7
An ECL 4K-Bit Bipolar RAM with an Effective Access Time of 2.5NS and On-Chip Address Latches
An ECL 4K-Bit Bipolar RAM with an Effective Access Time of 2.5NS and On-Chip Address Latches
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An ECL 4K-Bit Bipolar RAM with an Effective Access Time of 2.5NS and On-Chip Address Latches

Yamaguchi, K. ; Kanetani, K. ; Todokoro, H. ; Nakano, T. ; Akimoto, K. ; Ogiue, K.

1984 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers, 1984, p.52-53

IEEE

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8
A High Latch-Up Immunity Full CMOS RAM
A High Latch-Up Immunity Full CMOS RAM
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

A High Latch-Up Immunity Full CMOS RAM

Anami, K. ; Yoshimoto, M. ; Yoshihara, T. ; Nagao, S. ; Akasaka, Y. ; Nakano, T.

1984 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers, 1984, p.12-13

IEEE

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9
3-Dimensional Gate Array with Vertically Stacked Dual SOI/CMOS Structure Fabricated by Beam Recrystallization
3-Dimensional Gate Array with Vertically Stacked Dual SOI/CMOS Structure Fabricated by Beam Recrystallization
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

3-Dimensional Gate Array with Vertically Stacked Dual SOI/CMOS Structure Fabricated by Beam Recrystallization

Kawamura, S. ; Sasaki, N. ; Iwai, T. ; Mukai, R. ; Nakano, M. ; Takagi, M.

1984 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers, 1984, p.44-45

IEEE

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10
Experimental study on wind driven current in a wind-wave tank--effect of return flow on wind driven current
Experimental study on wind driven current in a wind-wave tank--effect of return flow on wind driven current
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Experimental study on wind driven current in a wind-wave tank--effect of return flow on wind driven current

Tsuruya, H ; Nakano, S ; Kato, H Mitsuyasu, H (eds) ; Toba, Y

Illumina Biological Content - unstructured, 1985, p.425-430

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