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Photo-detectors integrated with resonant tunneling diodes
Photo-detectors integrated with resonant tunneling diodes
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Photo-detectors integrated with resonant tunneling diodes

Romeira, Bruno ; Pessoa, Luis M ; Salgado, Henrique M ; Ironside, Charles N ; Figueiredo, José M L

Sensors (Basel, Switzerland), 2013-07, Vol.13 (7), p.9464-9482 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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2
Spike and slab biclustering
Spike and slab biclustering
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Spike and slab biclustering

Denitto, M. ; Bicego, M. ; Farinelli, A. ; Figueiredo, M.A.T.

Pattern recognition, 2017-12, Vol.72, p.186-195 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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3
A biclustering approach based on factor graphs and the max-sum algorithm
A biclustering approach based on factor graphs and the max-sum algorithm
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A biclustering approach based on factor graphs and the max-sum algorithm

Denitto, M. ; Farinelli, A. ; Figueiredo, M.A.T. ; Bicego, M.

Pattern recognition, 2017-02, Vol.62, p.114-124 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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4
Effect of material, geometry, surface treatment and environment on the shear strength of single lap joints
Effect of material, geometry, surface treatment and environment on the shear strength of single lap joints
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Effect of material, geometry, surface treatment and environment on the shear strength of single lap joints

da Silva, Lucas. F.M. ; Carbas, R.J.C. ; Critchlow, G.W. ; Figueiredo, M.A.V. ; Brown, K.

International journal of adhesion and adhesives, 2009-09, Vol.29 (6), p.621-632 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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5
Adaptive sparseness for supervised learning
Adaptive sparseness for supervised learning
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Adaptive sparseness for supervised learning

Figueiredo, M.A.T.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2003-09, Vol.25 (9), p.1150-1159 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Parameter Estimation for Blind and Non-Blind Deblurring Using Residual Whiteness Measures
Parameter Estimation for Blind and Non-Blind Deblurring Using Residual Whiteness Measures
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Parameter Estimation for Blind and Non-Blind Deblurring Using Residual Whiteness Measures

Almeida, M. S. C. ; Figueiredo, M. A. T.

IEEE transactions on image processing, 2013-07, Vol.22 (7), p.2751-2763 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Restoration of Poissonian Images Using Alternating Direction Optimization
Restoration of Poissonian Images Using Alternating Direction Optimization
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Restoration of Poissonian Images Using Alternating Direction Optimization

Figueiredo, M A T ; Bioucas-Dias, J M

IEEE transactions on image processing, 2010-12, Vol.19 (12), p.3133-3145 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Multiplicative Noise Removal Using Variable Splitting and Constrained Optimization
Multiplicative Noise Removal Using Variable Splitting and Constrained Optimization
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Multiplicative Noise Removal Using Variable Splitting and Constrained Optimization

Bioucas-Dias, José M ; Figueiredo, Mário A T

IEEE transactions on image processing, 2010-07, Vol.19 (7), p.1720-1730 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Effect of Adhesive Type and Thickness on the Lap Shear Strength
Effect of Adhesive Type and Thickness on the Lap Shear Strength
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Effect of Adhesive Type and Thickness on the Lap Shear Strength

da Silva, Lucas F. M. ; Rodrigues, T. N. S. S. ; Figueiredo, M. A. V. ; de Moura, M. F. S. F. ; Chousal, J. A. G.

The Journal of adhesion, 2006-11, Vol.82 (11), p.1091-1115 [Periódico revisado por pares]

Basingstoke: Taylor & Francis Group

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10
A Convergent Image Fusion Algorithm Using Scene-Adapted Gaussian-Mixture-Based Denoising
A Convergent Image Fusion Algorithm Using Scene-Adapted Gaussian-Mixture-Based Denoising
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A Convergent Image Fusion Algorithm Using Scene-Adapted Gaussian-Mixture-Based Denoising

Teodoro, Afonso M. ; Bioucas-Dias, Jose M. ; Figueiredo, Mario A. T.

IEEE transactions on image processing, 2019-01, Vol.28 (1), p.451-463 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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