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1-μs laser pulses from XeF
1-μs laser pulses from XeF
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1-μs laser pulses from XeF

Champagne, L. F. ; Eden, J. G. ; Harris, N. W. ; Djeu, N. ; Searles, S. K.

Appl. Phys. Lett.; (United States), 1977-02, Vol.30 (3), p.160-161 [Periódico revisado por pares]

United States

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120-ps duration pulses by active mode locking of an XeCl laser
120-ps duration pulses by active mode locking of an XeCl laser
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120-ps duration pulses by active mode locking of an XeCl laser

SHAY, T. M ; SZE, R. C ; MALONEY, M ; FIGUEIRA, J. F

J. Appl. Phys.; (United States), 1988-10, Vol.64 (7), p.3758-3760 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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2. 5 kHz high repetition rate XeCl excimer laser
2. 5 kHz high repetition rate XeCl excimer laser
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2. 5 kHz high repetition rate XeCl excimer laser

Takagi, S. ; Okamoto, N. ; Kakizaki, K. ; Sato, S. ; Goto, T.

Journal of applied physics, 1990-12, Vol.68:11 [Periódico revisado por pares]

United States

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200-MHz electrodeless discharge excitation of an XeF laser
200-MHz electrodeless discharge excitation of an XeF laser
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200-MHz electrodeless discharge excitation of an XeF laser

Christensen, C. P. ; Waynant, R. W.

Appl. Phys. Lett.; (United States), 1982-11, Vol.41 (9), p.794-796 [Periódico revisado por pares]

United States

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21Ne and 131Xe NMR study of electric field gradients and multinuclear NMR study of the composition of a ferroelectric liquid crystal
21Ne and 131Xe NMR study of electric field gradients and multinuclear NMR study of the composition of a ferroelectric liquid crystal
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21Ne and 131Xe NMR study of electric field gradients and multinuclear NMR study of the composition of a ferroelectric liquid crystal

Ahola, Susanna K. ; Ingman, Petri ; Laatikainen, Reino ; Sinkkonen, Jari ; Jokisaari, Jukka

The Journal of chemical physics, 2018-12, Vol.149 (23), p.234901-234901 [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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354-nm laser action on XeF
354-nm laser action on XeF
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354-nm laser action on XeF

Brau, C. A. ; Ewing, J. J.

Applied physics letters, 1975-01, Vol.27 (8), p.435-437 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics (AIP)

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3D velocity map imaging of electrons with TPX3CAM
3D velocity map imaging of electrons with TPX3CAM
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3D velocity map imaging of electrons with TPX3CAM

Cheng, Chuan ; Moğol, Gönenç ; Weinacht, Thomas ; Nomerotski, Andrei ; Trallero-Herrero, Carlos

Review of scientific instruments, 2022-01, Vol.93 (1), p.013003-013003 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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42Ar background in nEXO
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

42Ar background in nEXO

Veeraraghavan, Venkatesh ; Piepke, Andreas Schnee, Richard W. ; Heise, Jaret

AIP Conference Proceedings, 2023, Vol.2908 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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60-ns E -beam excitation of rare-gas halide lasers
60-ns E -beam excitation of rare-gas halide lasers
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60-ns E -beam excitation of rare-gas halide lasers

Edwards, C. B. ; O’Neill, F. ; Shaw, M. J.

Appl. Phys. Lett.; (United States), 1980-04, Vol.36 (8), p.617-620 [Periódico revisado por pares]

United States

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A 490-nm XeF electric discharge laser
A 490-nm XeF electric discharge laser
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A 490-nm XeF electric discharge laser

Fisher, C. H. ; Center, R. E. ; Mullaney, G. J. ; McDaniel, J. P.

Appl. Phys. Lett.; (United States), 1979-07, Vol.35 (1), p.26-28 [Periódico revisado por pares]

United States

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