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Refinado por: Nome da Publicação: Applied Physics Letters remover assunto: Physical Sciences remover
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1
Brick-wall structure in polycrystalline TlBa2Ca2Cu3Ox thick films with high critical currents
Brick-wall structure in polycrystalline TlBa2Ca2Cu3Ox thick films with high critical currents
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Brick-wall structure in polycrystalline TlBa2Ca2Cu3Ox thick films with high critical currents

MILLER, D. J ; HU, J. G ; HETTINGER, J. D ; GRAY, K. E ; TKACZYK, J. E ; DELUCA, J ; KARAS, P. L ; SUTLIFF, J. A ; GARBAUSKAS, M. F

Applied physics letters, 1993-07, Vol.63 (4), p.556-558 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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2
DENSITY OF SiO2–Si INTERFACE STATES
DENSITY OF SiO2–Si INTERFACE STATES
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DENSITY OF SiO2–Si INTERFACE STATES

Gray, Peter V. ; Brown, Dale M.

Applied physics letters, 1966-01, Vol.8 (2), p.31-33 [Periódico revisado por pares]

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Detection of surface (∼1 μm) impurity phases in high Tc superconductors
Detection of surface (∼1 μm) impurity phases in high Tc superconductors
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Detection of surface (∼1 μm) impurity phases in high Tc superconductors

COOKE, D. W ; JAHAN, M. S ; GRAY, E. R ; RUSNAK, B ; LAWRENCE, G. P ; FORTGANG, C ; SMITH, J. L ; MAEZ, M. A ; HULTS, W. L ; RAISTRICK, I. D ; PETERSON, D. E ; O'ROURKE, J. A ; RICHARDSON, S. A ; DOSS, J. D

Applied physics letters, 1989-03, Vol.54 (10), p.960-962 [Periódico revisado por pares]

Melville, NY: American Institute of Physics

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4
Directed fast electron beams in ultraintense picosecond laser irradiated solid targets
Directed fast electron beams in ultraintense picosecond laser irradiated solid targets
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Directed fast electron beams in ultraintense picosecond laser irradiated solid targets

Ge, X. L. ; Lin, X. X. ; Yuan, X. H. ; Carroll, D. C. ; Gray, R. J. ; Yu, T. P. ; Tresca, O. ; Chen, M. ; Liu, F. ; Zhuo, H. B. ; Zielbauer, B. ; Zhao, L. ; Neely, D. ; Sheng, Z. M. ; Li, Y. T. ; McKenna, P.

Applied physics letters, 2015-08, Vol.107 (9) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
Domain wall mobility in ultrathin epitaxial Ag/Fe/Ag(001) films
Domain wall mobility in ultrathin epitaxial Ag/Fe/Ag(001) films
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Domain wall mobility in ultrathin epitaxial Ag/Fe/Ag(001) films

Cowburn, R. P. ; Ferré, J. ; Gray, S. J. ; Bland, J. A. C.

Applied physics letters, 1999-02, Vol.74 (7), p.1018-1020 [Periódico revisado por pares]

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6
Effect of polar discontinuity on the growth of LaNiO3/LaAlO3 superlattices
Effect of polar discontinuity on the growth of LaNiO3/LaAlO3 superlattices
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Effect of polar discontinuity on the growth of LaNiO3/LaAlO3 superlattices

Liu, Jian ; Kareev, M. ; Prosandeev, S. ; Gray, B. ; Ryan, P. ; Freeland, J. W. ; Chakhalian, J.

Applied physics letters, 2010-03, Vol.96 (13) [Periódico revisado por pares]

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7
Electromagnetic micromotor for microfluidics applications
Electromagnetic micromotor for microfluidics applications
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Electromagnetic micromotor for microfluidics applications

Barbic, Mladen ; Mock, Jack J. ; Gray, Andrew P. ; Schultz, S.

Applied physics letters, 2001-08, Vol.79 (9), p.1399-1401 [Periódico revisado por pares]

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8
Electronic and magnetic phenomena at the interface of LaAlO3 and Ru doped SrTiO3
Electronic and magnetic phenomena at the interface of LaAlO3 and Ru doped SrTiO3
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Electronic and magnetic phenomena at the interface of LaAlO3 and Ru doped SrTiO3

Gray, M. T. ; Sanders, T. D. ; Jenkins, C. A. ; Shafer, P. ; Arenholz, E. ; Suzuki, Y.

Applied physics letters, 2015-12, Vol.107 (24) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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9
Er-doped anatase TiO2 thin films on LaAlO3 (001) for quantum interconnects (QuICs)
Er-doped anatase TiO2 thin films on LaAlO3 (001) for quantum interconnects (QuICs)
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Er-doped anatase TiO2 thin films on LaAlO3 (001) for quantum interconnects (QuICs)

Shin, Kidae ; Gray, Isaiah ; Marcaud, Guillaume ; Horvath, Sebastian P. ; Walker, Frederick J. ; Thompson, Jeff D. ; Ahn, Charles H.

Applied physics letters, 2022-08, Vol.121 (8) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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10
Error signal artifact in apertureless scanning near-field optical microscopy
Error signal artifact in apertureless scanning near-field optical microscopy
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Error signal artifact in apertureless scanning near-field optical microscopy

Billot, L. ; Lamy de la Chapelle, M. ; Barchiesi, D. ; Chang, S.-H. ; Gray, S. K. ; Rogers, J. A. ; Bouhelier, A. ; Adam, P.-M. ; Bijeon, J.-L. ; Wiederrecht, G. P. ; Bachelot, R. ; Royer, P.

Applied physics letters, 2006-07, Vol.89 (2), p.023105-023105-3 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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