Resultados de 1 a 10 de 89.368 para Busca Geral
Ordenado por:
Ordenado por:
Data mais antigaOr hit Enter to replace sort method
- Relevância
- Data mais recente
- Data mais antiga
- Mais acessados
- Autor
- Título
Mostrar Somente
- Revistas revisadas por pares (70.612)
| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
|---|---|---|---|
| 1 |
Material Type: Artigo
|
|
Modified periodic preventive maintenance policiesNakagawa, Toshio ; Nishi, Kenjiro ; Sawa, YoshiyaMicroelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (5), p.945-951 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 2 |
Material Type: Artigo
|
|
Quality assurance system and reliability testing of LSI circuitsWurnik, F.M.Microelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (4), p.709-715 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 3 |
Material Type: Artigo
|
|
A new model of software reliability predictionGovil, K.K.Microelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (6), p.1009-1010 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 4 |
Material Type: Artigo
|
|
Probabilistic delay evaluation in combinational digital circuits by petri netsCorsi, Francesco ; Castagnolo, B.Microelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (3), p.541-553 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 5 |
Material Type: Artigo
|
|
Multi-standby system with repair and replacement policyGoel, L.R. ; Gupta, RakeshMicroelectronics and reliability, 1983, Vol.23 (5), p.805-808 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 6 |
Material Type: Artigo
|
|
An effect of semiconductor surface shape on gate breakdown voltage of a VMOS transistorSekigawa, T. ; Hayasi, Y.Solid-state electronics, 1983-01, Vol.26 (9), p.925-927 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 7 |
Material Type: Artigo
|
|
Superpower switch of microsecond rangeGrekhov, I.V. ; Gorbatyuk, A.V. ; Kostina, L.S. ; Korotkov, S.V. ; Jakovtchuk, N.S.Solid-state electronics, 1983-01, Vol.26 (11), p.1132-1132 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 8 |
Material Type: Artigo
|
|
On the small-signal behaviour of the MOS transistor in quasistatic operationTurchetti, Claudio ; Masetti, Guido ; Tsividis, YannisSolid-state electronics, 1983-01, Vol.26 (10), p.941-948 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
| 9 |
Material Type: Artigo
|
|
On the Output Resistance of Self-Checking Voltage DividersTsao, S. Hoi ; Fletcher, RonIEEE transactions on instrumentation and measurement, 1983-01, Vol.32 (4), p.469-471 [Periódico revisado por pares]New York, NY: IEEETexto completo disponível |
| 10 |
Material Type: Artigo
|
|
The exact calculation of the electric field and potential at the metallurgical boundary of abrupt n1− n2 homojunctionsSchmidt, Pierre E.Solid-state electronics, 1983-01, Vol.26 (12), p.1181-1182 [Periódico revisado por pares]Oxford: Elsevier LtdTexto completo disponível |
Resultados de 1 a 10 de 89.368 para Busca Geral
Ordenado por:
Ordenado por:
Data mais antigaOr hit Enter to replace sort method
- Relevância
- Data mais recente
- Data mais antiga
- Mais acessados
- Autor
- Título
Personalize Seus Resultados
Refine Search Results
Expandir Meus Resultados
Mostrar Somente
- Revistas revisadas por pares (70.612)
Refinar Meus Resultados
Tipo de Recurso
- Artigos (78.464)
- Anais de Congresso (10.444)
- magazinearticle (447)
- Book Chapters (12)
- Livros (1)
-
Mais opções
Assunto
- Exact Sciences And Technology (89.356)
- Physics (75.613)
- Physical Sciences (75.457)
- Electronics (64.550)
- Physics, Applied (59.175)
- Semiconductor Electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid State Devices (46.245)
- Optics (23.524)
- Nanoscience & Nanotechnology (18.784)
- Science & Technology - Other Topics (18.784)
- Materials Science (16.312)
- Electric, Optical And Optoelectronic Circuits (16.219)
- Circuit Properties (15.499)
- Microelectronic Fabrication (13.797)
- Physics, Condensed Matter (12.491)
- Telecommunications (12.415)
-
Mais opções
Data de Publicação
- Antes de1989 (4.515)
- 1989Até1995 (11.781)
- 1996Até2002 (19.725)
- 2003Até2010 (35.722)
- Após 2010 (17.967)
-
Mais opções
Base de Dados/Biblioteca
- Science Citation Index Expanded (Web of Science) (79.312)
- IEEE Electronic Library (IEL) Journals (45.786)
- ANTE: Abstracts in New Technology & Engineering (20.298)
- ScienceDirect® (17.884)
- Materials Research Database (13.510)
- IngentaConnect Journals (10.471)
- METADEX (9.333)
- Aerospace Database (9.083)
- Springer Nature - Complete Springer Journals (7.727)
- Springer Nature - Springer Journals All 2022 (7.709)
- SPIE_国际光学工程学会期刊 (6.980)
- Optica Conference Papers (6.934)
- Institute of Physics Journals (5.546)
- HEAL-Link subscriptions: Institute of Physics (IOP) Journals (5.546)
- IOPscience journals (5.546)
- EBSCOhost Computers and Applied Sciences Complete (5.365)
- Engineered Materials Abstracts (4.455)
- SPIE Conference Proceedings by volume (3.696)
- IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings (2.968)
- Journals@Ovid Complete (2.707)
-
Mais opções
Idioma
- Japonês (12.268)
- Francês (4)
- Chinês (1)
-
Mais opções
Nome da Publicação
- Ieee Transactions On Applied Superconductivity (9.839)
- Journal Of Lightwave Technology (6.930)
- Ieee Transactions On Electron Devices (6.734)
- Ieee Transactions On Magnetics (6.625)
- Microelectronic Engineering (6.293)
- Microelectronics And Reliability (4.700)
- Solid-State Electronics (3.976)
- Journal Of Micromechanics And Microengineering (3.515)
- Journal Of Electronic Materials (3.039)
- Ieee Microwave And Wireless Components Letters (2.665)
-
Mais opções
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco-
Realização:
Logos de Redes Sociais: 