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0.22 THz wideband sheet electron beam traveling wave tube amplifier: Cold test measurements and beam wave interaction analysis
0.22 THz wideband sheet electron beam traveling wave tube amplifier: Cold test measurements and beam wave interaction analysis
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0.22 THz wideband sheet electron beam traveling wave tube amplifier: Cold test measurements and beam wave interaction analysis

Baig, Anisullah ; Gamzina, Diana ; Barchfeld, Robert ; Domier, Calvin ; Barnett, Larry R. ; Luhmann, Neville C.

Physics of plasmas, 2012-09, Vol.19 (9) [Periódico revisado por pares]

United States

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1/f noise and radiation effects in MOS devices
1/f noise and radiation effects in MOS devices
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1/f noise and radiation effects in MOS devices

Fleetwood, D.M. ; Meisenheimer, T.L. ; Scofield, J.H.

IEEE transactions on electron devices, 1994-11, Vol.41 (11), p.1953-1964 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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1/f noise in n- and p-channel MOS devices through irradiation and annealing
1/f noise in n- and p-channel MOS devices through irradiation and annealing
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1/f noise in n- and p-channel MOS devices through irradiation and annealing

Meisenheimer, T.L. ; Fleetwood, D.M. ; Shaneyfelt, M.R. ; Riewe, L.C.

IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1991-12, Vol.38 (6), p.1297-1303 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10. 6. mu. m damage threshold measurements on sub-one-hundred-ps pyroelectric detectors
10. 6. mu. m damage threshold measurements on sub-one-hundred-ps pyroelectric detectors
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10. 6. mu. m damage threshold measurements on sub-one-hundred-ps pyroelectric detectors

Stotlar, S. C ; McLellan, E. J ; Gibbs, A. J ; Webb, J

Los Alamos Scientific Laboratory 1979-01

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10-fold detection range increase in quadrant-photodiode position sensing for photonic force microscope
10-fold detection range increase in quadrant-photodiode position sensing for photonic force microscope
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10-fold detection range increase in quadrant-photodiode position sensing for photonic force microscope

Perrone, Sandro ; Volpe, Giovanni ; Petrov, Dmitri

Review of scientific instruments, 2008-10, Vol.79 (10), p.106101-106101-3 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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6
10 ps resolution, 160 ns full scale range and less than 1.5% differential non-linearity time-to-digital converter module for high performance timing measurements
10 ps resolution, 160 ns full scale range and less than 1.5% differential non-linearity time-to-digital converter module for high performance timing measurements
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10 ps resolution, 160 ns full scale range and less than 1.5% differential non-linearity time-to-digital converter module for high performance timing measurements

Markovic, B ; Tamborini, D ; Villa, F ; Tisa, S ; Tosi, A ; Zappa, F

Review of scientific instruments, 2012-07, Vol.83 (7), p.074703-074703 [Periódico revisado por pares]

United States

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100 MHz fiber optic single transient gamma ray detection system
100 MHz fiber optic single transient gamma ray detection system
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100 MHz fiber optic single transient gamma ray detection system

Ogle, J. W ; Smith, R. C ; Ward, M ; Ramsey, R ; Hollabaugh, J

EG and G, Inc., Los Alamos, NM (USA) 1984-01

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10{times} reduction imaging at 13.4nm
10{times} reduction imaging at 13.4nm
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10{times} reduction imaging at 13.4nm

Tichenor, D. A ; Kubiak, G. D ; Malinowski, M. E

Sandia National Laboratories 1994-08

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112-pixel arrays of high-efficiency STJ X-ray detectors
112-pixel arrays of high-efficiency STJ X-ray detectors
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112-pixel arrays of high-efficiency STJ X-ray detectors

Friedrich, S ; Harris, J ; Warburton, W K ; Carpenter, M H ; Hall, J A ; Cantor, R

Lawrence Livermore National Laboratory 2013-07

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1.5 nm fabrication of test patterns for characterization of metrological systems
1.5 nm fabrication of test patterns for characterization of metrological systems
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1.5 nm fabrication of test patterns for characterization of metrological systems

Babin, Sergey ; Calafiore, Giuseppe ; Peroz, Christophe ; Conley, Raymond ; Bouet, Nathalie ; Cabrini, Stefano ; Chan, Elaine ; Lacey, Ian ; McKinney, Wayne R. ; Yashchuk, Valeriy V. ; Vladar, Andras E.

Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics processing and phenomena, 2015-11, Vol.33 (6)

United States: American Institute of Physics (AIP)

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