skip to main content
Idioma:
Refinado por: autor: Feitosa, D eliminar materia: Padrões De Software eliminar
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Correlating pattern grime and quality attributes
Correlating pattern grime and quality attributes
Material Type:
Artículo 		Añadir a Mi Portal

Correlating pattern grime and quality attributes

Daniel Feitosa Apostolos Ampatzoglou; Paris Avgeriou; Elisa Yumi Nakagawa

IEEE Access Piscataway v. 6, p. 23065-23078, 2018

Piscataway 2018

Disponible en ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2888073 )(Obténgalo)

Personalizar los resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Nuevas sugerencias de búsqueda

Ignorar mi consulta y buscar por todo

por este autor/creador:

  1. Feitosa, D
  2. Nakagawa, E
  3. Ampatzoglou, A
  4. Avgeriou, P

con este tema:

  1. Projeto De Software
  2. Segurança De Software

  • Realización: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociales: Freepik

Buscando en bases de datos remotas, por favor espere