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Refinado por: assunto: Acoustical Engineering remover
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Criteria for the Detection of Weak Signals through a Nonlinear Bi-stable System
Criteria for the Detection of Weak Signals through a Nonlinear Bi-stable System
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Criteria for the Detection of Weak Signals through a Nonlinear Bi-stable System

Abbas, W. ; Saqib, M.A.

2006 IEEE International Multitopic Conference, 2006, p.74-78

IEEE

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2
Monte Carlo simulation of noise in GaAs semiconductor devices
Monte Carlo simulation of noise in GaAs semiconductor devices
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Monte Carlo simulation of noise in GaAs semiconductor devices

Adams, J.G. ; Ting-Wei Tang ; Kay, L.E.

IEEE transactions on electron devices, 1994-04, Vol.41 (4), p.575-581 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices
Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Investigation of the offset charge noise in single electron tunneling devices

Ahlers, F.-J. ; Krupenin, V.A. ; Lotkhov, S.V. ; Niemeyer, J. ; Presnov, D.E. ; Scherer, H. ; Weimann, T. ; Wol, H.

Proceedings of 20th Biennial Conference on Precision Electromagnetic Measurements, 1996, p.507-508

IEEE

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4
Noise its measurement, analysis, rating, and control
Noise its measurement, analysis, rating, and control
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Noise its measurement, analysis, rating, and control

J. S. Anderson 1941- (John Stuart) B Bratos-Anderson

Aldershot, England Avebury Technical Brookfield, Vt. Ashgate Pub. Co. 1993

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (534.83 An23n )(Acessar)

5
Experimental investigation of noise sources in silicon carbide Schottky barriers
Experimental investigation of noise sources in silicon carbide Schottky barriers
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Experimental investigation of noise sources in silicon carbide Schottky barriers

Anghel, L. ; Ouisse, T. ; Billon, T. ; Lassagne, P. ; Jaussaud, C.

1996 International Semiconductor Conference. 19th Edition. CAS'96 Proceedings, 1996, Vol.2, p.539-542 vol.2

IEEE

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6
The Measurement of Oscillator Noise at Microwave Frequencies
The Measurement of Oscillator Noise at Microwave Frequencies
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The Measurement of Oscillator Noise at Microwave Frequencies

Ashley, J.R. ; Searles, C.B. ; Palka, F.M.

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1968-09, Vol.16 (9), p.753-760 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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7
Acoustic Array Systems: Theory, Implementation, and Application
Acoustic Array Systems: Theory, Implementation, and Application
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Acoustic Array Systems: Theory, Implementation, and Application

Bai, Mingsian R ; Ih, Jeong-Guon ; Benesty, Jacob

Newark: Wiley-IEEE Press 2013

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8
Information coverage for wireless sensor networks
Information coverage for wireless sensor networks
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Information coverage for wireless sensor networks

Bang Wang ; Wei Wang ; Srinivasan, V. ; Kee Chaing Chua

IEEE communications letters, 2005-11, Vol.9 (11), p.967-969 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
The Influence of Operating Systems on the Performance of Collective Operations at Extreme Scale
The Influence of Operating Systems on the Performance of Collective Operations at Extreme Scale
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The Influence of Operating Systems on the Performance of Collective Operations at Extreme Scale

Beckman, P. ; Iskra, K. ; Yoshii, K. ; Coghlan, S.

2006 IEEE International Conference on Cluster Computing, 2006, p.1-12

IEEE

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10
Submarine Position Information For Acoustic Measurements
Submarine Position Information For Acoustic Measurements
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Submarine Position Information For Acoustic Measurements

Bjork, B.R. ; Fagan, W.F.

OCEANS 92 Proceedings@m_Mastering the Oceans Through Technology, 1992, Vol.2, p.788-792

IEEE

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Deste Autor:

  1. Bratos-Anderson, B
  2. Anderson, J

Neste Assunto:

  1. Acoustical Engineering
  2. Acoustical Engineering
  3. Noise Measurement
  4. Engineering
  5. Science & Technology

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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