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1	Material Type: Ata de Congresso		Effects of halo implant on hot carrier reliability of sub-quarter micron MOSFETs Das, A. ; De, H. ; Misra, V. ; Venkatesan, S. ; Veeraraghavan, S. ; Foisy, M. 1998 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 36th Annual (Cat. No.98CH36173), 1998, p.189-193 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Ata de Congresso		Room temperature polariton lasing in a single ZnO nanowire microcavity Das, A. ; Heo, J. ; Guo, W. ; Bayraktaroglu, A. ; Phillips, J. ; Bhattacharya, P. 2012 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), 2012, p.1-2 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	$Temperature rise from fracture in a Zr-based metallic glass$ $Temperature rise from fracture in a Zr-based metallic glass$ Material Type: Artigo		Temperature rise from fracture in a Zr-based metallic glass Das, A. ; Kagebein, P. ; Küchemann, S. ; Maaß, R. Applied physics letters, 2018-06, Vol.112 (26) [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Correlation of magnetic and magneto-optical properties with microstructure analysis in melt-textured (Nd0.33Sm0.33Gd0.33)Ba2Cu3Oy Das, A ; Koblischka, M.R ; Jirsa, M ; Muralidhar, M ; Koishikawa, S ; Sakai, N ; Murakami, M Physica. C, Superconductivity, 1999-06, Vol.319 (3-4), p.169-180 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		Characterisation and integration feasibility of JSR’s low- k dielectric LKD-5109 Das, A ; Kokubo, T ; Furukawa, Y ; Struyf, H ; Vos, I ; Sijmus, B ; Iacopi, F ; Van. Aelst, J ; Le, Q.T ; Carbonell, L ; Brongersma, S ; Maenhoudt, M ; Tokei, Z ; Vervoort, I ; Sleeckx, E ; Stucchi, M ; Schaekers, M ; Boullart, W ; Rosseel, E ; Van Hove, M ; Vanhaelemeersch, S ; Shiota, A ; Maex, K Microelectronic engineering, 2002-10, Vol.64 (1), p.25-33 [Periódico revisado por pares] Amsterdam: Elsevier B.V Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		A scattering matrix approach to device simulation Das, A. ; Lundstrom, M.S. Solid-state electronics, 1990-10, Vol.33 (10), p.1299-1307 [Periódico revisado por pares] Oxford: Elsevier Ltd Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Internal defect structure of calcium doped magnesium oxide nanoparticles studied by positron annihilation spectroscopy Das, A. ; Mandal, A. C. ; Roy, S. ; Nambissan, P. M. G. AIP advances, 2018-09, Vol.8 (9), p.095013-095013-13 [Periódico revisado por pares] Melville: American Institute of Physics Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		A Monte Carlo simulation of solidification structures of binary alloys Das, Amitabha ; Mittemeijer, Eric J. Philosophical magazine. A, Physics of condensed matter. Defects and mechanical properties, 2001-11, Vol.81 (11), p.2725-2742 [Periódico revisado por pares] Taylor & Francis Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Ata de Congresso		ATLAS: An adaptively formed hierarchical cell library based analog synthesis framework Das, Angan ; Vemuri, Ranga 2008 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, 2008, p.2542-2545 IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Theoretical Investigation of Resonant Modes of Shorting Post Loaded Circular Microstrip Antenna On Sphere De, A. ; Chakravarty, T. Journal of electromagnetic waves and applications, 2000-01, Vol.14 (8), p.1087-1102 [Periódico revisado por pares] Zeist: Taylor & Francis Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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