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Integrierte resonanzverstärker ohne induktivitäten
Integrierte resonanzverstärker ohne induktivitäten
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Integrierte resonanzverstärker ohne induktivitäten

Offner, M.

Microelectronics and reliability, 1966, Vol.5 (1), p.57-71 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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Optical alignment equipment for interconnecting semiconductor integrated circuits at slice level
Optical alignment equipment for interconnecting semiconductor integrated circuits at slice level
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Optical alignment equipment for interconnecting semiconductor integrated circuits at slice level

Price, T.E.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (4), p.347,IN27-348,IN28 [Periódico revisado por pares]

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3
Epitaxial deposition of silicon using ultra-thin alloy zone crystallisation
Epitaxial deposition of silicon using ultra-thin alloy zone crystallisation
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Epitaxial deposition of silicon using ultra-thin alloy zone crystallisation

Filby, J.D. ; Nielsen, S.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (1), p.11,IN3,13-12,IN10,14 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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4
The behaviour of electronic components at low operating stress levels
The behaviour of electronic components at low operating stress levels
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The behaviour of electronic components at low operating stress levels

Reiche, H.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (1), p.1-6 [Periódico revisado por pares]

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5
Welded and bonded connexions for microelectronics
Welded and bonded connexions for microelectronics
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Welded and bonded connexions for microelectronics

Clarke, D.J.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (1), p.73,IN15,75-74,IN22,83 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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6
Computer simulation and analysis techniques for reliable circuit design
Computer simulation and analysis techniques for reliable circuit design
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Computer simulation and analysis techniques for reliable circuit design

Hochwald, W. ; McQuade, K.F. ; Scheffler, H.S.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (2), p.97-128 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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7
A vapour etching technique for the photolithography of silicon dioxide
A vapour etching technique for the photolithography of silicon dioxide
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A vapour etching technique for the photolithography of silicon dioxide

Holmes, P.J. ; Snell, J.E.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (4), p.337-341 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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8
Integrated high figure of merit monolithic thin-film compatible logic circuits for data processing
Integrated high figure of merit monolithic thin-film compatible logic circuits for data processing
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Integrated high figure of merit monolithic thin-film compatible logic circuits for data processing

Fuschillo, N. ; Kroboth, J.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (2), p.145,IN1,149-148,IN6,159 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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9
Resistor tolerances
Resistor tolerances
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Resistor tolerances

Reiche, H.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (2), p.175-177 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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10
Electromechanical switching devices—Reliability, life and the relevance of circuit design
Electromechanical switching devices—Reliability, life and the relevance of circuit design
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Electromechanical switching devices—Reliability, life and the relevance of circuit design

Leighton, A.G.

Microelectronics and reliability, 1966-01, Vol.5 (2), p.161-173 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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