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1D Modulation: Atomic Level 1D Structural Modulations at the Negatively Charged Domain Walls in BiFeO3 Films (Adv. Mater. Interfaces 9/2015)
1D Modulation: Atomic Level 1D Structural Modulations at the Negatively Charged Domain Walls in BiFeO3 Films (Adv. Mater. Interfaces 9/2015)
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1D Modulation: Atomic Level 1D Structural Modulations at the Negatively Charged Domain Walls in BiFeO3 Films (Adv. Mater. Interfaces 9/2015)

Wang, Wen‐Yuan ; Tang, Yun‐Long ; Zhu, Yin‐Lian ; Xu, Yao‐Bin ; Liu, Ying ; Wang, Yu‐Jia ; Jagadeesh, Suriyaprakash ; Ma, Xiu‐Liang

Advanced materials interfaces, 2015-06, Vol.2 (9), p.n/a [Periódico revisado por pares]

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2
Aberration-corrected ADF-STEM depth sectioning and prospects for reliable 3D imaging in S/TEM
Aberration-corrected ADF-STEM depth sectioning and prospects for reliable 3D imaging in S/TEM
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-corrected ADF-STEM depth sectioning and prospects for reliable 3D imaging in S/TEM

Xin, Huolin L. ; Muller, David A.

Journal of electron microscopy, 2009-06, Vol.58 (3), p.157-165

Japan: Oxford University Press

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3
Aberration-corrected electron microscopy
Aberration-corrected electron microscopy
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-corrected electron microscopy

P. W Hawkes

Amsterdam ; Academic Press, Boston 2008

Localização: IF - Instituto de Física    (MS AIP v.153 )(Acessar)

4
Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy for complex transition metal oxides
Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy for complex transition metal oxides
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy for complex transition metal oxides

张庆华 肖东东 谷林

Chinese physics B, 2016-06, Vol.25 (6), p.1-8 [Periódico revisado por pares]

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5
Aberration-Corrected STEM Imaging of Ag on [gamma]-Al2O3
Aberration-Corrected STEM Imaging of Ag on [gamma]-Al2O3
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-Corrected STEM Imaging of Ag on [gamma]-Al2O3

Blom, Douglas A ; Allard, Lawrence F ; Narula, Chaitanya K ; Moses-debusk, Melanie J

Microscopy and microanalysis, 2008-02, Vol.14 (1), p.98 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Oxford University Press

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6
Aberration-corrected STEM investigation of the M2 phase of MoVNbTeO selective oxidation catalyst
Aberration-corrected STEM investigation of the M2 phase of MoVNbTeO selective oxidation catalyst
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-corrected STEM investigation of the M2 phase of MoVNbTeO selective oxidation catalyst

Blom, Douglas A. ; Pyrz, William D. ; Vogt, Tom ; Buttrey, Douglas J.

Journal of electron microscopy, 2009-06, Vol.58 (3), p.193-198

Japan: Oxford University Press

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7
Aberration-corrected transmission electron microscopy analyses of GaAs/Si interfaces in wafer-bonded multi-junction solar cells
Aberration-corrected transmission electron microscopy analyses of GaAs/Si interfaces in wafer-bonded multi-junction solar cells
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Aberration-corrected transmission electron microscopy analyses of GaAs/Si interfaces in wafer-bonded multi-junction solar cells

Häussler, Dietrich ; Houben, Lothar ; Essig, Stephanie ; Kurttepeli, Mert ; Dimroth, Frank ; Dunin-Borkowski, Rafal E. ; Jäger, Wolfgang

Ultramicroscopy, 2013-11, Vol.134, p.55-61 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
An aberration-corrected STEM study of structural defects in epitaxial GaN thin films grown by ion beam assisted MBE
An aberration-corrected STEM study of structural defects in epitaxial GaN thin films grown by ion beam assisted MBE
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An aberration-corrected STEM study of structural defects in epitaxial GaN thin films grown by ion beam assisted MBE

Poppitz, David ; Lotnyk, Andriy ; Gerlach, Jürgen W. ; Lenzner, Jörg ; Grundmann, Marius ; Rauschenbach, Bernd

Micron (Oxford, England : 1993), 2015-06, Vol.73, p.1-8 [Periódico revisado por pares]

England: Elsevier Ltd

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9
Análise morfológica e da resistência de união da superfície dentinária irradiada com os lasers de Er:YAG e Er,Cr:YSGG
Análise morfológica e da resistência de união da superfície dentinária irradiada com os lasers de Er:YAG e Er,Cr:YSGG
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise morfológica e da resistência de união da superfície dentinária irradiada com os lasers de Er:YAG e Er,Cr:YSGG

Moretto, Simone Gonçalves

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Faculdade de Odontologia 2009-03-03

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

10
Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging
Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Analysis of electron beam damage of exfoliated MoS2 sheets and quantitative HAADF-STEM imaging

Garcia, Alejandra ; Raya, Andres M. ; Mariscal, Marcelo M. ; Esparza, Rodrigo ; Herrera, Miriam ; Molina, Sergio I. ; Scavello, Giovanni ; Galindo, Pedro L. ; Jose-Yacaman, Miguel ; Ponce, Arturo

Ultramicroscopy, 2014-11, Vol.146, p.33-38 [Periódico revisado por pares]

Netherlands: Elsevier B.V

Texto completo disponível

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