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1966 IEEE Conference record seventh annual New York Conference on Electronic Reliability, 20 May 1966
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1966 IEEE Conference record seventh annual New York Conference on Electronic Reliability, 20 May 1966

New York Conference on Electronic Reliability (7th 1966 New York, N.Y.) Institute of Electrical and Electronics Engineers

New York Institute of Electrical and Electronics Engineers c1966

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (62.004.15 N42p 7. )(Acessar)

2
Reliable Distributed Systems: Technologies, Web Services, and Applications
Reliable Distributed Systems: Technologies, Web Services, and Applications
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Reliable Distributed Systems: Technologies, Web Services, and Applications

Birman, Kenneth

New York, NY: Springer Nature 2005

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Reliability Technology: Principles and Practice of Failure Prevention in Electronic Systems
Reliability Technology: Principles and Practice of Failure Prevention in Electronic Systems
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Reliability Technology: Principles and Practice of Failure Prevention in Electronic Systems

Pascoe, Norman

Newark: Wiley 2011

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Structural dynamics of electronic and photonic systems
Structural dynamics of electronic and photonic systems
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Structural dynamics of electronic and photonic systems

Suhir, Ephraim ; Yu, T. X ; Steinberg, David S

Newark: Wiley 2011

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Failure Analysis: A Practical Guide for Manufacturers of Electronic Components and Systems
Failure Analysis: A Practical Guide for Manufacturers of Electronic Components and Systems
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Failure Analysis: A Practical Guide for Manufacturers of Electronic Components and Systems

Bazu, Marius ; Bajenescu, Titu

Newark: John Wiley & Sons, Incorporated 2011

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Graph-Theory-Based Modeling and Control for System-Level Optimization of Smart Transformers
Graph-Theory-Based Modeling and Control for System-Level Optimization of Smart Transformers
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Graph-Theory-Based Modeling and Control for System-Level Optimization of Smart Transformers

Liserre, Marco ; Raveendran, Vivek ; Andresen, Markus

IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2020-10, Vol.67 (10), p.8910-8920 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Safety for Future Transport and Mobility
Safety for Future Transport and Mobility
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Safety for Future Transport and Mobility

Ross, Hans-Leo

Cham: Springer International Publishing AG 2020

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Reliability prediction of a 30 kW power electronics converter
Reliability prediction of a 30 kW power electronics converter
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Reliability prediction of a 30 kW power electronics converter

Schuderer, Jürgen ; Bühler, Raffael ; Delincé, François

Microelectronics and reliability, 2023-11, Vol.150, p.115083, Article 115083 [Periódico revisado por pares]

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Thermal Stress Based Model Predictive Control of Electric Drives
Thermal Stress Based Model Predictive Control of Electric Drives
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Thermal Stress Based Model Predictive Control of Electric Drives

Falck, Johannes ; Buticchi, Giampaolo ; Liserre, Marco

IEEE transactions on industry applications, 2018-03, Vol.54 (2), p.1513-1522 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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Reliability of Semiconductor Lasers and Optoelectronic Devices
Reliability of Semiconductor Lasers and Optoelectronic Devices
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Reliability of Semiconductor Lasers and Optoelectronic Devices

Herrick, Robert ; Ueda, Osamu

San Diego: Elsevier Science & Technology 2021

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