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Análise quantitativa da fração-argila de solos: contribuição ao estudo do método das misturas minerais-Padrões, pela difração dos raios-X
Análise quantitativa da fração-argila de solos: contribuição ao estudo do método das misturas minerais-Padrões, pela difração dos raios-X
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Análise quantitativa da fração-argila de solos: contribuição ao estudo do método das misturas minerais-Padrões, pela difração dos raios-X

Mendes, Antonio Carlos Teixeira

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Escola Superior de Agricultura Luiz de Queiroz 0000-00-00

Acesso online

2
X-ray powder diffractometry
X-ray powder diffractometry
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray powder diffractometry

Ron JENKINS J. L VRIES de

Eindhoven-Holland N.V.Philips Gloeilampenfabrieken s.d

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3
Diffraction of x-rays and electrons
Diffraction of x-rays and electrons
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Diffraction of x-rays and electrons

M. H. Pirenne

Cambridge University Press 1946

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4
X-ray optics; the diffraction of X-rays by finite and imperfect crystals
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray optics; the diffraction of X-rays by finite and imperfect crystals

A. J. C. Wilson 1914- (Arthur James Cochran)

London Methuen 1949

Localização: ESALQ - Biblioteca Central    (535 W754xr e.2 16587 ) e outros locais(Acessar)

5
Optical principles of the diffraction of x-ray
Optical principles of the diffraction of x-ray
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical principles of the diffraction of x-ray

Reginald William James

London G Bell 1950

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (548.73 J236o )(Acessar)

6
Conferences du Colloque de Grenoble 16 au 19 novembre 1959
Conferences du Colloque de Grenoble 16 au 19 novembre 1959
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Conferences du Colloque de Grenoble 16 au 19 novembre 1959

Conferences du Colloque de Grenoble (1959 Grenoble) Doyen Moret; J. L. de Vries

Eindhoven N. V. Philips 1959

Localização: IGC - Instituto de Geociências    (548.83 C748c 1959.c )(Acessar)

7
Conferences du Colloque de Lyon
Conferences du Colloque de Lyon
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Conferences du Colloque de Lyon

Colloque d'Analyse par Diffractometrie et Spectrometrie de Rayons X (7. 1967 Lyon) Doyen Lefebvre

Eindhoven Philips s.d

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (535.42 C687a 7. )(Acessar)

8
Advances in X-Ray analysis, volume 4 proceedings of the Ninth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 10-12, 1960
Advances in X-Ray analysis, volume 4 proceedings of the Ninth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 10-12, 1960
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Advances in X-Ray analysis, volume 4 proceedings of the Ninth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 10-12, 1960

Conference on Application of X-Ray Analysis (9. 1960 Denver, Colorado) William M Mueller

New York Plenum 1960

Localização: IF - Instituto de Física    (MS AXRA v.4 ) e outros locais(Acessar)

9
Advances in X-ray analysis, v.2 proceedings of the Seventh Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 13-15, 1958
Advances in X-ray analysis, v.2 proceedings of the Seventh Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 13-15, 1958
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Advances in X-ray analysis, v.2 proceedings of the Seventh Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 13-15, 1958

Conference on Application of X-Ray Analysis (7 1958 Denver, Colorado) Mueller, William M.

New York Plenum Press 1960

Localização: IF - Instituto de Física    (MS AXRA v.2 ) e outros locais(Acessar)

10
Advances in X-ray analysis, v.3 proceedings of the Eight Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 12-14, 1959
Advances in X-ray analysis, v.3 proceedings of the Eight Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 12-14, 1959
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Advances in X-ray analysis, v.3 proceedings of the Eight Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 12-14, 1959

Conference on Application of X-Ray Analysis (8 1959 Denver, Colorado) Mueller, William M.

New York Plenum Press 1960

Localização: IF - Instituto de Física    (MS AXRA v.3 ) e outros locais(Acessar)

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Deste Autor:

  1. Ellena, J
  2. Mastelaro, V
  3. Craievich, A
  4. Longo, E
  5. Castellano, E

Neste Assunto:

  1. DIFRAÇÃO POR RAIOS X
  2. Cristalografia
  3. Filmes Finos
  4. Fotoluminescência
  5. Espectroscopia Raman

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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