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0-1 Test and Recurrence Analysis for Chaotic to Quasi Periodic Transition of Floating Potential Fluctuations in DC Magnetron Sputtering Plasma
0-1 Test and Recurrence Analysis for Chaotic to Quasi Periodic Transition of Floating Potential Fluctuations in DC Magnetron Sputtering Plasma
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0-1 Test and Recurrence Analysis for Chaotic to Quasi Periodic Transition of Floating Potential Fluctuations in DC Magnetron Sputtering Plasma

Sabavath, G. K.

Plasma physics reports, 2020-06, Vol.46 (6), p.658-666 [Periódico revisado por pares]

Moscow: Pleiades Publishing

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2
(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY
(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY
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(0, 2) CHIRAL LIOUVILLE FIELD THEORY

NAKAYAMA, YU

Modern physics letters A, 2013-12, Vol.28 (38), p.1350178 [Periódico revisado por pares]

Singapore: World Scientific Publishing Company

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3
0 + → 0 − pion-like excitations in light and medium nuclei
0 + → 0 − pion-like excitations in light and medium nuclei
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0 + → 0 − pion-like excitations in light and medium nuclei

Cohen, Joseph

Physics letters. B, 1985-01, Vol.164 (4), p.253-257 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System
0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.05 µm (3σ) Overlay Accuracy Through-the-lens Alignment in an Excimer Laser Lithography System

Higashiki, Tatsuhiko ; Tojo, Toru ; Takahashi, Yoshihiko ; Tabata, Mitsuo ; Nishizaka, Takeshi ; Kuwabara, Osamu ; Uchida, Norio ; Yoshino, Hisakazu ; Saito, Susumu

Japanese Journal of Applied Physics, 1992-12, Vol.31 (12S), p.4161 [Periódico revisado por pares]

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5
0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography
0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography
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0.1 µm Fine-Pattern Fabrication Using Variable-Shaped Electron Beam Lithography

Hashimoto, Kazuhiko ; Yasuda, Masaaki ; Hirai, Yoshihiko ; Kawakita, Kenji ; Nomura, Noboru ; Murata, Kenji

Japanese Journal of Applied Physics, 1989-12, Vol.28 (12A), p.L2281 [Periódico revisado por pares]

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6
0.1 nm information limit with the CM30FEG-special Tübingen
0.1 nm information limit with the CM30FEG-special Tübingen
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

0.1 nm information limit with the CM30FEG-special Tübingen

Lichte, Hannes ; Kessler, Peter ; Lenz, Friedrich ; Rau, Wolf-Dieter

Ultramicroscopy, 1993, Vol.52 (3), p.575-580 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
0.18 μm CMOS fully differential CTIA for a 32x16 ROIC for 3D ladar imaging systems
0.18 μm CMOS fully differential CTIA for a 32x16 ROIC for 3D ladar imaging systems
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

0.18 μm CMOS fully differential CTIA for a 32x16 ROIC for 3D ladar imaging systems

Helou, Jirar N ; Garcia, Jorge ; Sarmiento, Mayra ; Kiamilev, Fouad ; Lawler, William

Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering, 2006, Vol.6294, p.629409-629409-13

Bellingham, Wash: SPIE

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8
A 0.1-40 GHz broadband MEMS clamped-clamped beam capacitive power sensor based on GaAs technology
A 0.1-40 GHz broadband MEMS clamped-clamped beam capacitive power sensor based on GaAs technology
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.1-40 GHz broadband MEMS clamped-clamped beam capacitive power sensor based on GaAs technology

Han, Juzheng ; Liao, Xiaoping

Journal of micromechanics and microengineering, 2014-06, Vol.24 (6), p.65024-7 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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9
A 0.1–4.5 GHz MMIC Controlled Digital Step Attenuator Based on SiGe
A 0.1–4.5 GHz MMIC Controlled Digital Step Attenuator Based on SiGe
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A 0.1–4.5 GHz MMIC Controlled Digital Step Attenuator Based on SiGe

Dobush, I. M. ; Sheyerman, F. I. ; Babak, L. I. ; Svetlichnyi, Yu. A.

Instruments and experimental techniques (New York), 2019-04, Vol.62 (2), p.175-184 [Periódico revisado por pares]

Moscow: Pleiades Publishing

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10
A 0.1 G-to-20 G integrated MEMS inertial sensor
A 0.1 G-to-20 G integrated MEMS inertial sensor
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

A 0.1 G-to-20 G integrated MEMS inertial sensor

Yamane, Daisuke ; Konishi, Toshifumi ; Matsushima, Takaaki ; Toshiyoshi, Hiroshi ; Masu, Kazuya ; Machida, Katsuyuki

Japanese Journal of Applied Physics, 2015-08, Vol.54 (8), p.87202 [Periódico revisado por pares]

The Japan Society of Applied Physics

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