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Commentarium in Codicem iuris canonici
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Commentarium in Codicem iuris canonici

Heribert Jone b. 1885

Paderborn F. Schöningh 1950-

Localização: FD - Fac. Direito    (O13-16-14 DBC )(Acessar)

2
Make slides worth while
Make slides worth while
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Make slides worth while

Meeting of the Society of Automotive Engineers, Detroit, 1952 B A Jone; Society of Automotive Engineers

New York Sae 19--?

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central    (778.25 M472m f )(Acessar)

3
Asymmetric volatility in equity markets around the world
Asymmetric volatility in equity markets around the world
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Asymmetric volatility in equity markets around the world

Horpestad, Jone B. ; Lyócsa, Štefan ; Molnár, Peter ; Olsen, Torbjørn B.

The North American journal of economics and finance, 2019-04, Vol.48, p.540-554 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Inc

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4
Gut microbial ecology of the Critically Endangered Fijian crested iguana (Brachylophus vitiensis): Effects of captivity status and host reintroduction on endogenous microbiomes
Gut microbial ecology of the Critically Endangered Fijian crested iguana (Brachylophus vitiensis): Effects of captivity status and host reintroduction on endogenous microbiomes
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Gut microbial ecology of the Critically Endangered Fijian crested iguana (Brachylophus vitiensis): Effects of captivity status and host reintroduction on endogenous microbiomes

Eliades, Samuel J. ; Brown, Joseph C. ; Colston, Timothy J. ; Fisher, Robert N. ; Niukula, Jone B. ; Gray, Kim ; Vadada, Jhabar ; Rasalato, Sia ; Siler, Cameron D.

Ecology and evolution, 2021-05, Vol.11 (9), p.4731-4743 [Periódico revisado por pares]

England: John Wiley & Sons, Inc

Texto completo disponível

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5
A dual-mode built-in self-test technique for capacitive MEMS devices
A dual-mode built-in self-test technique for capacitive MEMS devices
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A dual-mode built-in self-test technique for capacitive MEMS devices

Xingguo Xiong ; Yu-Liang Wu ; Jone, W.-B.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2005-10, Vol.54 (5), p.1739-1750 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
On a New Graph Theory Approach to Designing Zero-Aliasing Space Compressors for Built-In Self-Testing
On a New Graph Theory Approach to Designing Zero-Aliasing Space Compressors for Built-In Self-Testing
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On a New Graph Theory Approach to Designing Zero-Aliasing Space Compressors for Built-In Self-Testing

Das, S.R. ; Hossain, A. ; Biswas, S. ; Petriu, E.M. ; Assaf, M.H. ; Jone, W.-B. ; Sahinoglu, M.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2008-10, Vol.57 (10), p.2146-2168 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
A novel synthesis of phyto-mediated silver nanoparticles and its bacterial performance against microbes
A novel synthesis of phyto-mediated silver nanoparticles and its bacterial performance against microbes
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A novel synthesis of phyto-mediated silver nanoparticles and its bacterial performance against microbes

Jone Magadelin, B ; Ajith Sinthuja, S. ; Begila David, S. ; Yardily, A.

Materials today : proceedings, 2022, Vol.68, p.640-645 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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8
Fault Modeling and Detection for Drowsy SRAM Caches
Fault Modeling and Detection for Drowsy SRAM Caches
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Fault Modeling and Detection for Drowsy SRAM Caches

Wei Pei ; Jone, W.-B. ; Yiming Hu

IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2007-06, Vol.26 (6), p.1084-1100 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Crosstalk test pattern generation for dynamic programmable logic arrays
Crosstalk test pattern generation for dynamic programmable logic arrays
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Crosstalk test pattern generation for dynamic programmable logic arrays

Jianxun Liu ; Jone, W.-B. ; Das, S.R.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2006-08, Vol.55 (4), p.1288-1302 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Fault simulation and response compaction in full scan circuits using HOPE
Fault simulation and response compaction in full scan circuits using HOPE
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Fault simulation and response compaction in full scan circuits using HOPE

Das, S.R. ; Ramamoorthy, C.V. ; Assaf, M.H. ; Petriu, E.M. ; Jone, W.-B. ; Sahinoglu, M.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2005-12, Vol.54 (6), p.2310-2328 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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