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1
Material Type:
Artigo de Congresso
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Are deletion mutants easier to identify manually?

Vinícius H. S Durelli (Vinícius Humberto Serapilha Durelli) Nilton M. de Souza (Nilton Mendes de Souza); Márcio Eduardo Delamaro; IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops - ICSTW (10. 2017 Tokyo, Japan)

Proceedings Piscataway, NJ : IEEE

Piscataway, NJ IEEE 2017

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2847345 )(Acessar)

2
Material Type:
Artigo de Congresso
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SiMut exploring program similarity to support the cost reduction of mutation testing

Alessandro V. Pizzoleto Fabiano Cutigi Ferrari; Lucas Diniz Dallilo; Jeff Offutt; IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops - ICSTW (13. 2020 Porto)

Proceedings Los Alamitos : IEEE, 2020

Los Alamitos IEEE 2020

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-3007670 )(Acessar)

3
Material Type:
Artigo de Congresso
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Reducing the concretization effort in fsm-based testing of software product lines

Vanderson Hafemann Fragal Adenilso da Silva Simão; André Takeshi Endo; Mohammad Reza Mousavi; IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops - ICSTW (10. 2017 Tokyo, Japan)

Proceedings Piscataway, NJ : IEEE

Piscataway, NJ IEEE 2017

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2852305 )(Acessar)

4
Material Type:
Artigo de Congresso
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A preliminary investigation into using machine learning algorithms to identify minimal and equivalent mutants

Claudinei Brito Junior Vinícius Humberto Serapilha Durelli; Rafael Serapilha Durelli; Simone do Rocio Senger de Souza; Auri Marcelo Rizzo Vincenzi; Márcio Eduardo Delamaro; IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops - ICSTW (13. 2020 Porto); IEEE International Workshop on Mutation Analysis (15. 2020 Porto)

Proceedings Los Alamitos : IEEE, 2020

Loa Alamitos IEEE 2020

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-3002329 )(Acessar)

5
Experimental evaluation of SDL and One-Op mutation for C
Material Type:
Artigo de Congresso
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Experimental evaluation of SDL and One-Op mutation for C

Márcio Eduardo Delamaro Lin Deng; Vinícius H. S Durelli (Vinícius Humberto Serapilha Durelli); Nan Li; Jeff Offutt; IEEE International Conference on Software Testing, Verification, and Validation - ICST 2014 (7. 2014 Cleveland, Ohio)

Proceedings Los Alamitos, California : IEEE Computer Society, 2014

Los Alamitos, California IEEE Computer Society 2014

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD 2509071 )(Acessar)

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